X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT9500系列

1. 薄膜?多層膜測量
2. 異物分析
3. 數(shù)據(jù)編輯功能
4. 高強度照射

X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT9500系列

1. 薄膜?多層膜測量

X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT9500系列通過采用新型的毛細管（X射線聚光系統(tǒng)）和X射線源，把與以往機型FT9500同等強度的X射線聚集在30 µmΦ的極微小范圍。因此，不會改變測量精度即可測量幾十微米等級的微小范圍。
同時，也可對幾十納米等級的Au/Pd/Ni/Cu多鍍層的各層膜厚進行高精度測量。

2. 異物分析

X射線熒光鍍層厚度測量 FT9500系列通過高能量微小光束和高計數(shù)率檢測器的組合，可進行微小異物的定性分析。利用CCD攝像頭選定樣品的異物部分并照射X射線，通過與正常部分的能譜差進行異物的定性分析（Al～U）。

3. 數(shù)據(jù)編輯功能

X射線熒光鍍層厚度測量 FT9500系列配備了Microsoft® Excel和Microsoft® Word。在Microsoft® Excel上面配備了統(tǒng)計處理軟件，可以進行測量數(shù)據(jù)、平均值、zui大/zui小值、C.V.值、Cpk等的統(tǒng)計處理。 另外，通過Microsoft® Word可以簡單的制作包含了樣品畫圖的測量報告書。

4. 高強度照射

X射線熒光鍍層厚度測量 FT9500系列X射線熒光鍍層厚度測量 FT9500系列通過高強度照射在微小部分也可以鮮明的觀察、聚焦位置。

5. 樣品工作臺

X射線熒光鍍層厚度測量 FT9500系列配備等同與FT9550X的大型樣品臺，能夠?qū)Υ笮途€路板等樣品進行整體排列測量對應(yīng)。

選購項

• 電鍍液分析（塊體標(biāo)準(zhǔn)曲線）
• 能譜匹配軟件（材料辨別）
• 掃描（強度面分析多點表示）軟件