X射線光電子能譜儀AXIS ULTRA DLD廠家用X射線激發(fā)試樣光電子的能譜儀。適用于元素分析，價(jià)態(tài)和化學(xué)結(jié)構(gòu)分析，也可測(cè)量電子結(jié)合能。

X射線光電子能譜儀AXIS ULTRA DLD廠家特點(diǎn)

• 空間分辨率小于3μ_m
• 可集成多種分析技術(shù)
• 延遲線探測(cè)器（DLD）系統(tǒng)
• 平行成像和微區(qū)譜圖

的同軸超低能無陰影單電子源荷電中和器，*解決絕緣體XPS分析
  全自動(dòng)5軸常中心樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)角分辨XPS分析
*能量分辨率優(yōu)于 0.45eV（Ag 3d_5/2）
常規(guī)分析能量分辨和靈敏度高達(dá)0.55eV@1.1Mcps（Ag 3d_5/2）
絕緣體分析的分析能量分辨和靈敏度高達(dá)0.68eV@16kcps（PET的C 1s）
 選配單色化Al/Ag雙陽極X射線源，實(shí)現(xiàn)高能XPS分析
 結(jié)合了數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理的Vision軟件，可運(yùn)行于Windows XP/Vista/7等多種平臺(tái)下，實(shí)現(xiàn)各真空室真空度實(shí)時(shí)顯示，操控真空閥門開關(guān)，實(shí)驗(yàn)條件設(shè)定和全自動(dòng)無人值守分析等強(qiáng)大功能