| 參考價 | 面議 |
CS系列電化學工作站由高速MCU、高精度FET集成電路組成，內置DDS數(shù)字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；
高電流電化學工作站 型號；HAD-CS1350
CS系列電化學工作站由高速MCU、高精度FET集成電路組成，內置DDS數(shù)字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計、電化學噪聲（電偶電流）、電化學阻抗（EIS）等電化學測試等功能，所有測量功能均可定時自動進行，用于無人值守下的自動測量。
CS系列包括多種型號，可用于較大電流和較高槽壓的電化學測量和應用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±5A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±5.0A；電流測量下限為10pA。
CorrTestTM 測試軟件是CS電化學工作站的控制平臺，軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件設計規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學術語保持*，全中文菜單和界面，方便用戶的教學和科研工作。
CorrTestTM 測試軟件還具有特別針對材料和腐蝕電化學的實驗方法，包括鈍化曲線自動或人工反掃，電化學再活化法，溶液電阻（IR降）測量和補償法。CorrtestTM 分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對伏安曲線進行數(shù)字平滑、積分、微分運算，能對極化曲線進行電化學參數(shù)解析，包括極化電阻Rp，Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，腐蝕速率計算等，還可計算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學工作站全部采用USB2.0接口與計算機通訊，設備安裝簡單，即插即用。
外形尺寸：36.5cm(寬)*30.5cm(深)*16cm(高) 儀器重量：6.5Kg
應用領域
1) 研究電化學機理；物質的定性定量分析；
2) 常規(guī)電化學測試，包括電合成、電沉積(電鍍)性能評價；
3) 功能和能源材料(電池、超級電容器、納米材料、生物傳感器等)的機理和制備研究；
4) 緩蝕劑、水質穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率快速評價以及氫滲測試等；
5) 金屬材料在導電性介質(包括水/混凝土/土壤等環(huán)境)中的腐蝕電化學測試。
儀器配置
1) 儀器主機1臺 2) CorrTest測試與分析軟件1套
3) 電解池(含鹽橋和排氣管)1套 4) 鉑金電極、參比電極、工作電極各1支
5) 模擬電解池1個 6) 電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7) 電極電纜線1根 8) 電極架 (選配*)
9) 屏蔽箱 (選配*)
技術指標與功能方
硬件參數(shù)指標
恒電位電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±5.0A |
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度：10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz) | 電流靈敏度：<10pA |
電位上升時間：<1mS(<10mA), | 電流量程：2A～200nA, 共8檔 |
參比電極輸入阻抗：1012 W||20pF | zui大輸出電流：5.0A |
槽壓：±15V | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
CV 和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s | 電位掃描時電位增量：0.1mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
SWV頻率：0.001～100KHz | CV的zui小電位增量：0.075mV |
AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit@1kHz， | 電流與電位量程：自動設置 |
DA分辨率：16bit，建立時間：1mS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
接口通訊模式：USB2.0 |
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電化學阻抗測量指標
信號發(fā)生器 |
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頻率響應：10mHz～115KHz(CS1310/CS1350) | 交流信號幅值：0mV～2500mV |
直流偏壓：-10～+10V | DDS輸出阻抗：50W |
波形：正弦波，三角波，方波 | 正弦波失真：<1% |
掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降 | zui大負載電容：1nF；zui大負載電感：10mH |
信號分析器 |
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積分時間：zui大值：106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
zui小值：10mS 或者一個循環(huán)的zui長時間 |
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直流偏置補償 |
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電位自動補償范圍：-10V～+10V | 電流補償范圍：-1A～+1A |
帶寬調整：自動或手動設置, 共8級可調 |
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CS系列儀器不同型號功能比較
功 能 方 法 | CS1120 | CS1150 | CS1300 | CS1310 | CS1350 | CS1360 | |
穩(wěn)
| 開路電位測量（OCP） | • | • | • | • | • | • |
恒電位極化 | • | • | • | • | • | • | |
恒電流極化 |
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動電位掃描（DPP） | • | • | • | • | • | • | |
動電流掃描（DGP） |
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暫
| 任意恒電位方波 | • | • | • | • | • | • |
任意恒電流方波 |
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多電位階躍（VSTEP） | • | • | • | • | • | • | |
多電流階躍（ISTEP） |
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快速電位脈沖 |
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快速電流脈沖 |
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計 | 計時電位法（CP） |
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計時電流法（CA） |
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計時電量法（CC） |
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伏 | 線性掃描伏安法（LSV） | • | • | • | • | • | • |
循環(huán)伏安法（CV） | • | • | • | • | • | • | |
階梯伏安法（SCV） |
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差分脈沖伏安法（DPV） |
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常規(guī)脈沖伏安法（NPV） |
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方波伏安法（SWV） |
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交流伏安法（ACV） |
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常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV） |
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二次諧波交流伏安 (SHACV) |
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溶 | 恒電位溶出伏安 |
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線性溶出伏安 |
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階梯溶出伏安 |
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方波溶出伏安 |
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交流溶出伏安 |
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交 | 電化學阻抗（EIS）～頻率掃描 |
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電化學阻抗（EIS）～時間掃描 |
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電化學阻抗（EIS）～電位掃描 |
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腐 | 循環(huán)極化曲線（CPP） | • | • | • | • | • | • |
線性極化曲線（LPR） | • | • | • | • | • | • | |
電化學噪聲 (EN) | • | • | • | • | • | • | |
電偶腐蝕測量 (ZRA) | • | • | • | • | • | • | |
氫擴散測試（HDT） |
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電 | 電池充放電測試 |
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恒電流充放電 |
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恒電流間歇充放電 |
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擴 | 盤環(huán)電極測試 |
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數(shù)字記錄儀 | • | • | • | • | • | • | |
波形發(fā)生器 |
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圓盤電機控制 |
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注：* 氫滲透測試中主動式充氫需要另行配置CS1001A精密恒流源使用或采用CS2350雙恒電位儀。
北京恒奧德科技有限公司
電 話：/57116369/
傳 真：
手 機：/
：2820129828/1029191641/1575574360/1321298635
郵 箱：hadkj_2012
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