芯片生產試驗高低溫試驗箱
用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。

芯片生產試驗高低溫試驗箱

 可程式恒溫恒濕試驗箱常用的幾種加濕方法如下： 

  1、水噴霧加濕法：分超聲波式、離心噴霧式和水泵噴淋式；    超聲波式加濕原理：在加濕器底部安裝超聲振子，向水中發(fā)射超聲波，使水在常溫下直接霧化，霧由恒溫恒濕試驗箱中的風機產生的氣流送入箱中，進行加濕。    離心噴霧式加濕原理：用高速旋轉風機，將水從水槽內吸出，利用離心力將水滴甩出成為極細的水粒，送入恒溫恒濕試驗箱中，與空氣進行熱交換，吸收熱量而蒸發(fā)加濕。  

GB/T2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法； GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.3-2006 試驗Cab：恒定濕熱試驗方法； GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件；
GB/T2423.4-2008 試驗Db：交變濕熱試驗方法； GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法； GJB150.3 高溫試驗；

使用環(huán)境：

⒈允許工作環(huán)境：0~35℃ 性能保證環(huán)境：5~25℃。

⒉要求安裝地面為水平地面。

⒊試驗箱周圍距離600MM。

恒溫恒濕試驗箱由調溫（加溫、制冷）和增濕兩部分組成。通過安裝在箱體內頂部的旋轉風扇，將空氣排入箱體實現(xiàn)氣體循環(huán)、平衡箱體內的溫、濕度，由箱體內置的溫、濕度傳感器采集的數據，傳至溫、濕度控制器（微型信息處理器）進行編輯處理，下達調溫調濕指令，通過空氣加熱單元、冷凝管以及水槽內加熱蒸發(fā)單元的共同完成。 
　　恒溫恒濕箱溫度調節(jié)是通過箱體內置溫度傳感器，采集數據，經溫度控制器（微型信息處理器）調節(jié)，接通空氣加熱單元來實現(xiàn)增加溫度或者調節(jié)制冷電磁閥來降低箱體內溫度，以達到控制所需要的溫度。恒溫恒濕箱溫度調節(jié)是通過體內置溫度傳感器，采集數據，經濕度控制器（微型信息處理器）調節(jié)，接通水槽加熱元件，通過蒸發(fā)水槽內的水來實現(xiàn)增加箱體內的濕度或者調節(jié)制冷電磁閥來實現(xiàn)去濕作用，以達到控制所需要的濕度。 

芯片生產試驗高低溫試驗箱

溫度范圍：-70℃～150℃（特殊要求: -100℃～150℃液氮）
快溫變范圍：-55℃～80℃

設備結構:

箱體內膽采用進口不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴塑；

采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕精確可靠；

大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且采用雙層玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況；

設有獨立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，保證實驗安全運行不發(fā)生意外；

箱體左側配直徑50mm的測試孔。