Horiba X射線熒光分析儀是專門針對WEEE(電氣電子產(chǎn)品廢棄物處理法令）和RoHS法令（限制電器電子產(chǎn)品使用有害物質(zhì)法令），快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點(diǎn)，操作非常簡單。

X射線熒光是一種可對加工材料和部件進(jìn)行快速、無損掃描的檢測技術(shù)。分析時(shí)間只需要幾分鐘，靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統(tǒng)的檢測低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標(biāo)準(zhǔn)的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨(dú)立進(jìn)行分析。

基于大量客戶的要求，HORIBA憑借*的經(jīng)驗(yàn)開發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50 。它將為您提供友好的操作界面和優(yōu)異的使用性能。

MESA-50具有三種尺寸的準(zhǔn)直器可用于各種大小的樣品，從細(xì)長的電線、微小的電子器件到大型的樣品。

結(jié)合SDD檢測器和HORIBA的DPP處理器，MESA-50將為您帶來EDXRF的全新體驗(yàn)。MESA-50是HORIBA全新的生態(tài)采購支持儀器，不僅適合于歐洲的RoHS，ELV，也適用于其他地區(qū)的各種法規(guī)。