基于 XDS NIR 技術(shù)的 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀對樣品瓶中固體的快速無損測量提供了新一代近紅外分析方案。 用戶可以采用 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，縮短產(chǎn)品的檢驗(yàn)檢疫放行時(shí)間。無論在實(shí)驗(yàn)室，還是現(xiàn)場離線分析都可以對樣品瓶中的樣品進(jìn)行成分分析或材料鑒別檢測。該分析 儀支持無人值守模式下的光譜采集，使操作人員能夠騰出時(shí)間準(zhǔn)備其它樣品、分析數(shù)據(jù)等。

儀器特性及優(yōu)勢
•XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移
•在無人值守的情況下，可自動(dòng)反射分析一系列多位樣品瓶（樣品瓶大小可由用戶選擇）
•內(nèi)置光斑可調(diào)功能，優(yōu)化樣品的照度
•無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物
•面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
•熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會影響性能

儀器簡介

基于 XDS NIR 技術(shù)的 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀對樣品瓶中固體的快速無損測量提供了新一代近紅外分析方案。 用戶可以采用 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，縮短產(chǎn)品的檢驗(yàn)檢疫放行時(shí)間。無論在實(shí)驗(yàn)室，還是現(xiàn)場離線分析都可以對樣品瓶中的樣品進(jìn)行成分分析或材料鑒別檢測。該分析 儀支持無人值守模式下的光譜采集，使操作人員能夠騰出時(shí)間準(zhǔn)備其它樣品、分析數(shù)據(jù)等。

XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀的通用樣品盤可實(shí)現(xiàn)瓶裝樣品的連續(xù)測量。內(nèi)置的光斑可調(diào)功能，可以根據(jù)樣品瓶直徑調(diào)節(jié)樣品的照度。 樣品中心定位卡環(huán)可用于單個(gè)樣品分析，而選配的粗顆粒分析單元?jiǎng)t將固態(tài)樣品的分析范圍從精細(xì)粉末擴(kuò)大到粗顆粒、球狀顆粒和片狀顆粒等幾乎所有的固體。


XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能，提高了靈敏度，同時(shí)加快了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。 使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision® 軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成準(zhǔn)確的分析。