HK-JTM-H 金相測量顯微鏡
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- 公司名稱 北京哈科試驗儀器廠
- 品牌
- 型號 HK-JTM-H
- 所在地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2021/1/27 12:08:51
- 訪問次數 278
產品簡介:金相測量顯微鏡系列HK-JTM-H凝聚了哈科在金相顯微鏡領域Z*的科研成果與Z*的機械設計工藝,是一款具有品牌性能的懸臂金相顯微鏡。世界*的軟硬件配置,目前國內精度Z高、性能Z穩(wěn)定、功能Z強大。
儀器特點
*品牌金相光學觀察系統(tǒng),觀察1寸-18.5寸液晶面板等產品,10X-1000X光學放大倍率,可實現明暗視野的觀察以及導電粒子微分干涉觀察。系統(tǒng)使用人體工學設計理念設計,符合友好化測量、采用主動式減震系統(tǒng),花崗石本體結構,能剛好的克服環(huán)境震動問題。人性化計算機測量模式,有效提高觀察定位效率。專為使用者設計*機型,操作更便利、測量更迅速。
應用領域
該儀器適用于LED、硅晶片、精密零件、導電粒子彩色濾光片、手機屏幕、FPD模組半導體晶片、FPC-PCB、IC封裝光盤CD、圖像傳感器、CCD、CMOS、PDA光源、薄膜等金相觀察及精確測量行業(yè)。
規(guī)格參數
1.儀器規(guī)格系列:HK-JTM-H
2.測量范圍:50mm-500mm
3.解析讀數:0.1 um
4.示值誤差:3um+L/200 L:單位mm
5.符合人機工程學設計準則方便操作測量
6.工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作
7. 可實現Z軸自動對焦
8.具有偏光和DIC檢測功能
9.采用被動式減震裝置,提高整機精度穩(wěn)定性
10.自主開發(fā)QMS3D-M軟件,高清晰進口1/2"彩色攝像機
11.可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置,可適應復雜工件的測量
12.可實現高度輔助測量
13. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm
14.同軸光/底光測量
15.可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度
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