| 主要特點(diǎn) ◆ 可測定波長范圍從280nm到2300nm的透射和反射光譜 ◆ 在同一區(qū)域可同時(shí)測定T和R值 ◆ 可對折射率(n)，吸收系數(shù)(k) 和厚度(d)進(jìn)行準(zhǔn)確測定 ◆ 樣品可在X-Y掃描臺上進(jìn)行掃描 ◆ 入射光角度可以是固定角度、多角度和從0°到90°的連續(xù)變化的角度 ◆ 可用s-、p-或非偏振光作為入射光對T和R進(jìn)行測定 ◆ 可對透明基片進(jìn)行測定且不需要對樣品進(jìn)行前處理 ◆ 內(nèi)建的材料數(shù)據(jù)庫 ◆ 密封的樣品室 ◆ 可選擇散射模式 ◆ 具有在線或離線分析功能 對T和R同時(shí)測定 KD-8000系統(tǒng)在同一個(gè)光斑處，同時(shí)對透過光譜和發(fā)射光譜進(jìn)行測定，保證了兩套數(shù)據(jù)具有直接的相關(guān)性。通過測定這些光譜，全自動的控制和分析軟件系統(tǒng)可以從中得到n、k和d值。而且所有這些都源自同一次測定。不同散射模式的選擇使得對寬廣范圍材料的分析成為可能，而且用戶可以選擇缺省模式或者高級分析模式。 功能強(qiáng)大的Pro-OptixTM控制和分析軟件系統(tǒng)包括一個(gè)可編輯的數(shù)據(jù)庫，它允許對材料進(jìn)行預(yù)先定義，以提高分析速度。該軟件的其他特點(diǎn)包括顏色的匹配和太陽光的計(jì)算以及金屬薄膜的算法。樣品可以是透明的、不透明的或者半吸收的而無需對它們特殊處理。 NKD-8000是一款能全部提供上述功能的分光型光學(xué)薄膜分析系統(tǒng)，它為薄膜表征設(shè)立了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。 可變的入射光角度 ①反射光檢測 ②光束管 ③Y軸坐標(biāo) ④透射光檢測器 ⑤Z軸坐標(biāo) ⑥X軸坐標(biāo) ⑦樣品臺 ⑧馬達(dá)驅(qū)動的可變角度選擇裝置 NKD-8000系統(tǒng)提供可變的角度選擇裝置，它提供*馬達(dá)驅(qū)動的，可由PC機(jī)控制入射光的角度，入射角度從從0°到90°可自由選擇。 通過使用分析軟件中的集成工具就可實(shí)現(xiàn)對T和R的s-偏振光譜和p-偏振光譜進(jìn)行獨(dú)立分析或二者一起分析。 通過作為選件的X-Y掃描臺可以對大尺寸樣品進(jìn)行掃描，樣品在X、Y兩個(gè)方向上的大行程是100mm，同時(shí)保持入射光斑始終位于行程的中間。 在測定時(shí)有許多樣品架備選，它們可以夾持不同類型尺寸的樣品。全PC控制使這種方法對整個(gè)樣品的數(shù)據(jù)收集和分析變得簡單、準(zhǔn)確和快捷。 多個(gè)角度 如果在應(yīng)用中只需一些不連續(xù)的入射光角度，那么多角度選件可以提供一個(gè)滿意的解決方案。從0°到90°，用戶可自定義三個(gè)入射光角度。 附件 熱臺：可控制樣品溫度至150度，測定變溫下的T和R，對測定光學(xué)涂層和基體的光譜位移十分有用。 顯微鏡/相機(jī)：對樣品進(jìn)行顯微分析。 微光斑附件：將入射光斑聚焦至200微米，特別適合表征微小樣品和局部區(qū)域。 | 
