操作簡單且直觀*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實例*:探測器內(nèi)置型(制造商: 德國Bruker nano GmbH)
操作簡單且直觀
僅需選擇圖像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時,實時顯示點分析、線分析結(jié)果等多種分析。
可根據(jù)點位置移動實時追蹤譜圖,輕松確認目標元素。
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素,并顯示正確結(jié)果。
項目 | 內(nèi)容 |
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探測器類型 | 硅漂移探測器 |
探測器面積 | 30 mm2 |
能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時不高于129 eV) |
可檢測元素 | B5~Cf98 |
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