功率循環(huán)可靠性測試設備TL-PC12000W3用在中低頻二三極管、MOS管、IGBT管等半導體大功率器件/功率模塊進行測試

功率循環(huán)可靠性測試設備TL-PC12000W3用在中低頻二三極管、MOS管、IGBT管等半導體大功率器件/功率模塊進行測試

1.試驗功能：

直流Power Cycling（PC）、附加OPL

1.1PC描述：

使?TJ≥100℃（?TJ =TJ【MAX】-TJ【MIN】）到循環(huán)次數(shù)結束，基于目的不同分兩種方式：

①　?TJ Power  Cycling（秒級/fast）

②　?TC Power  Cycling（分鐘級）&（?TC=TC【MAX】-TC【MIN】）

每種方式各有4種循環(huán)模式：

①　恒流IH循環(huán)模式（?TJ ↑）

②　恒定PD循環(huán)方式（?TJ ↑）

③　恒定?TJ循環(huán)模式（TON←、TOFF→）

④　恒定?TC循環(huán)模式（TON←、TOFF→）

1.2OPL描述：

※  恒定PD使TJ=TJ【MAX】，并保持恒定，到時間結束，以下描述忽略此項。

2. 參數(shù)檢測：

溫度參數(shù)檢測：

①　TJ檢測：K系數(shù)法檢測（VF - TJ曲線法）

②　TC檢測：傳感器實時檢測試驗器件殼溫

③　TS檢測：傳感器實時檢測試驗器件熱沉溫度

電參數(shù)檢測：

①　VGE檢測：實時檢測試驗器件門級電壓

②　VCE檢測：實時檢測試驗器件兩端電壓

③　ICE檢測：實時檢測試驗器件兩端電流

3. 數(shù)據(jù)處理：

基于參數(shù)檢測，分別實時得出試驗參數(shù)：

①　TJ、?TJ

②　VF、VON

③　Rth【J-C】、Rth【J-S】

4. 失效控制：

對數(shù)據(jù)處理后得出TJ、?TJ 、VF、VON、Rth【J-C】、Rth【J-S】等試驗結果，并作為樣品失效的觸發(fā)條件對試驗進行必要的控制。

5. 試驗依據(jù)：

參照JESD51、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、MIL-STD-750等。

6. 試驗效率：

3個并行獨立試驗工位

7.產(chǎn)品配置：

1. 系統(tǒng)主機部分：

1.1. 試驗腔：

型號規(guī)格：

TL-PC03B

功能特點：

可放置3個水冷板熱沉，3個工位的試驗驅動、偏壓、檢測、冷水散熱端口引入試驗腔。

整個試驗腔體防凝露處理，低溫不凝露。

具有煙霧報警和安全處理裝置。

技術參數(shù)：

內腔尺寸：W1200×H500×D600（mm）

1.2. 熱沉：

型號規(guī)格：

PC15KW

功能特點：

水冷板，水流速根據(jù)降溫要求自適應調節(jié)；

紫銅材質；防凝露處理；氣動連接器件

技術參數(shù)：

尺寸尺寸：W300×H200×D400（mm）；溫度范圍：15℃~150℃

1.3. 試驗電源：

型號規(guī)格：

XDC20V600A

功能特點：

器件加熱功率電源。

程控電源，可手動調節(jié)。

各試驗電源之間無關聯(lián)性，獨立運行。

技術參數(shù)：

尺寸規(guī)格：19寸6U電源

控制方式：程控

電壓輸出范圍：DC0~20.0V可設置

電流輸出范圍：0~600.0A

輸出紋波：≤60mV

可靠性：持續(xù)滿載運行時間＞1000小時

安全保護：過熱、過壓、過流主動保護

1.4. 驅動檢測板：

型號規(guī)格：

PC15KW

功能特點：

驅動檢測1個工位的各項試驗參數(shù)

驅動檢測板之間無關聯(lián)性，獨立運行。

技術參數(shù)：

加熱功率：

IH驅動(總)：0~600A,可并聯(lián)使用，擴展1800A

VH驅動：0~20.0V

VG驅動：0V~+20.00V，0V~-15.00V

檢測驅動：1工位

IM驅動：5~1000mA

IH檢測：0~1800A

UH檢測：0~24.00V

VF檢測：0~10000mV（**值）

TJ檢測：室溫~+200.0℃

測試延時：≤100us

測試周期：≤200us

1.5. PC軟件系統(tǒng)：

型號規(guī)格：

XLW-PC.SYS2.0

功能特點：

集成硬件、電腦界面完成試驗設置、控制、參數(shù)顯示、試驗數(shù)處理、曲線繪制等。

工業(yè)電腦

數(shù)量1套，23寸顯示屏、I5處理器、1T硬盤、Win7操作系統(tǒng)，強制冷卻散熱系統(tǒng)，可長期持續(xù)穩(wěn)定運行＞1000小時。

技術參數(shù)：

主界面：12通道試驗參數(shù)、試驗數(shù)據(jù)、自動摸底、試驗控制等集中展示和匯總。

器件庫：器件新建、保存、刪除功能。響應時間<1.5秒。

試驗控制：試驗【開始】、【暫?！俊ⅰ纠^續(xù)】、【停止】，集成于主界面；控制動作執(zhí)行時間<1秒。

曲線查看：【實時曲線】和【試驗開始至當前時刻曲線】；采集時間*小時間間隔1秒。

數(shù)據(jù)導出查詢：一鍵導出試驗數(shù)據(jù)。容量取決于硬盤容量。

導出Excel:試驗參數(shù)和數(shù)據(jù)集成一體，導出時間<15秒。

2. K系數(shù)測試儀：

型號規(guī)格：

K150T1

功能特點：

1立方英尺無風高溫箱

恒溫點讀取溫度以樣品表面溫度為準

恒溫點可設置多個，一鍵自動完成K系數(shù)測試

技術參數(shù)：

工位數(shù)：1工位。

IM：5mA~10000mA。

VF測試：1個，0~10000mV，開爾文測試法。

TJ檢測：實時監(jiān)測，測試延時≤100us、測試周期≤200us。