用于清晰成像的靈活探測(cè)：

◆利用探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。

◆利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。

◆利用新一代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。

自動(dòng)化加速工作流程：

◆4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。

◆首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。

◆接下來對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的步，將結(jié)果可視化。

高級(jí)分析型顯微鏡：

◆將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。

◆在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

◆8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。

靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像：

◆使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

◆使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

◆使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。

◆使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。

技術(shù)參數(shù)：