三綜合試驗箱(溫濕度振動綜合試驗箱)--產(chǎn)品用途

三綜合試驗箱即溫度濕度振動綜合試驗箱，是綜合溫度、濕度、振動三功能的試驗箱。具有快速溫變速率,提供溫度、濕度和振動等的綜合測試環(huán)境的功能。

三綜合試驗箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時可在試驗箱內(nèi)將電振動應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶對整機（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動綜合應(yīng)力篩選試驗，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。與單一因素作用相比，更能真實地反映電工電子產(chǎn)品在運輸和實際使用過程中對溫濕度及振動復合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。

三綜合試驗箱(溫濕度振動綜合試驗箱)--符合標準

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件 　　

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件 　　

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

GB/T 5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))

GB/T 2423.10-2008/IEC 60068-2-6:1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc:振動(正弦)

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

GB/T 2423.35-2005/IEC 60068-2-50：1983電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗

GB/T 2423.36-2005/IEC 60068-2-51：1983 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗

GB/T 2423.58-2008/IEC 60068-2-80：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fi:振動 混合模式

GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第３部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GJB 150.19裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第19部分：溫度—濕度—高度試驗

GB/T 12085.10-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法 第10部分:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗

三綜合試驗箱(溫濕度振動綜合試驗箱)--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)(可制作非標尺寸)