MicroTEQ-R1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能

MicroTEQ-R1 顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，采用高精度微區(qū)光路平臺(tái)，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實(shí)現(xiàn)了共焦拉曼*測(cè)量功能。幫助用戶快速的對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)，光譜信息進(jìn)行測(cè)試和分析，大大的降低了微觀測(cè)試的復(fù)雜程度。系統(tǒng)使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質(zhì)量信號(hào)質(zhì)量的同時(shí)，保證了測(cè)試效率。精密光路設(shè)計(jì)能夠?qū)崿F(xiàn)1um*級(jí)別的聚焦光斑和探測(cè)區(qū)域，系統(tǒng)可增配低波數(shù)模塊，實(shí)現(xiàn)75cm-1的探測(cè)范圍。

*注: 使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔(Pinhole)；1um光斑需加配100X物鏡。