XAVU真空型多功能XRF_涂鍍層測厚儀_X熒光光譜儀
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- 公司名稱 深圳市恩陽電子有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/12/20 16:16:08
- 訪問次數(shù) 5
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更廣的分析范圍:用于地礦、合金、及貴金屬等物質(zhì)中Na(11)-U(92)元素的成分分析
更廣的分析范圍:用于地礦、合金、及貴金屬等物質(zhì)中Na(11)-U(92)元素的成分分析;可檢測Li(3)-U(92)的涂鍍層分析
無損變焦檢測技術(shù):可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm
自主研發(fā)EFP算法:的EFP算法不但對多層測試精準、校準方便,而且解決了多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層的檢測難題
智能超密閉真空系統(tǒng):智能超抽密閉真空系統(tǒng),排除環(huán)境對檢測結(jié)果的干擾,測量范圍更廣,測量結(jié)果更準確
的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限
高性能探測器:高性能SDD硅漂移探測器,測量精度納米級
XAVU是一款一機多用型X熒光光譜儀,配備智能抽真空系統(tǒng),高性能的屏蔽性能去除大氣對低能元素的影響,對Na、Mg、Al、Si、P等輕元素鍍層厚度及成分測試精度更高.測量C-U元素,Li-U的涂鍍層。
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