采用緊湊設(shè)計(jì)，集合了IEC、VESA標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中針對(duì)平板顯示屏的大部分光電性能測(cè)試參數(shù)?？蛇M(jìn)行測(cè)試顯示屏的亮度、色度、均勻性、暗室/亮度對(duì)比度、光譜功率分布等參數(shù)的測(cè)試，缺陷分析，響應(yīng)時(shí)間測(cè)試等，特別適合于…

功能：采用緊湊設(shè)計(jì)，集合了IEC、VESA標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中針對(duì)平板顯示屏的大部分光電性能測(cè)試參數(shù)?？蛇M(jìn)行測(cè)試顯示屏的亮度、色度、均勻性、暗室/亮度對(duì)比度、光譜功率分布等參數(shù)的測(cè)試，缺陷分析，響應(yīng)時(shí)間測(cè)試等，特別適合于現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)量。

性能指標(biāo)：
◆ 光譜范圍：350~800nm
◆ 可以模擬包括CIE標(biāo)準(zhǔn)A、D65光源等任意照明光源
◆ 亮度精度：標(biāo)準(zhǔn)
◆ 色度精度（）：0.002
◆ 平移臺(tái)平移精度：0.05
◆ 采樣精度：16
◆ 可選用不同的測(cè)試附件對(duì)不同測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試（如光譜輻射分析儀、瞬態(tài)光度計(jì)、CCD成像測(cè)試儀等）