描述：IS6-D-UV 是一個 6 英寸積分球（內(nèi)部 5.3 英寸），帶有用于發(fā)散 (D) 光束的硅探測器。IS6-D-UV 配有紫外線檢測器，校準(zhǔn)范圍為 200 至 1100nm，可測量高達(dá) 1W 的功率...

IS6-D-UV 積分球概述：

IS6-D-UV 是一個 6 英寸積分球（內(nèi)部 5.3 英寸），帶有用于發(fā)散 (D) 光束的硅探測器。IS6-D-UV 配有紫外線檢測器，校準(zhǔn)范圍為 200 至 1100nm，可測量高達(dá) 1W 的功率。

IS6-D-UV 積分球圖紙：

主要參數(shù)：

問題歸納：

吸收器表面的損壞對測量精度的影響

如果損壞導(dǎo)致吸收發(fā)生變化，則對吸收器表面造成的損壞會影響讀數(shù)。檢查這一點(diǎn)的一種方法是將光束稍微移離受損區(qū)域，并查看讀數(shù)是否發(fā)生變化以及變化幅度有多大。當(dāng)損壞閾值時，在這個功率或能量密度值下，可能會出現(xiàn)外觀損壞，導(dǎo)致表面發(fā)生一些顏色變化，但通常將損壞閾值定義為導(dǎo)致變化超過 1% 的功率或能量密度。

電磁干擾對測量精度的影響

Ophir 儀表和傳感器經(jīng)認(rèn)證符合 CE 對電磁輻射敏感性和發(fā)射的要求。在強(qiáng)度達(dá)到 CE 規(guī)定的極限的幾乎所有輻射頻率下，人們都不會注意到任何干擾。在極少數(shù)特定頻率情況下，可能會有一些明顯的干擾。已在任何頻率下可以看到的干擾小于全額定功率的 0.3%。