求
雜質(zhì)粒子掃描檢測(cè)儀
2024-04-19CALPAS雜質(zhì)粒子掃描檢測(cè)儀
其他信息
- 有 效 期：
- 已過期
- 采購數(shù)量：
- 1
- 所 在 地：
- 暫無
- 瀏覽次數(shù)：
- 266次
免責(zé)聲明：以上所展示的信息由企業(yè)自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負(fù)責(zé)，儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
同類求購信息
-
雜質(zhì)粒子掃描檢測(cè)儀
CALPAS雜質(zhì)粒子掃描檢測(cè)儀
-
粒子圖像速度場(chǎng)儀
粒子圖像速度場(chǎng)儀
-
顯微粒子成像測(cè)速系統(tǒng)
FlowMaster?-Micro顯微粒子成
-
檢測(cè)端粒
檢測(cè)端粒
-
圖像儀光源
圖像儀光源
-
Q-400數(shù)字圖像相關(guān)DIC應(yīng)變測(cè)量
Q-400數(shù)字圖像相關(guān)DIC應(yīng)變測(cè)量
-
丹迪粒子圖像測(cè)速儀
低頻PIV丹迪粒子圖像測(cè)速儀是
-
德國(guó)LaVision PIV/PLIF粒子成
德國(guó)LaVisionPIV/PLIF粒子成像
-
粒子成像測(cè)速場(chǎng)儀
德國(guó)LaVisionPIV/PLIF粒子成像
