梅特勒XPE 分析天平 XPE 105
現(xiàn)可靠地分析結(jié)果取決于原始樣品的精確度。 樣品制備中的任何錯(cuò)誤都會(huì)延續(xù)，甚至在之后的流程中被放大。 樣品制備占據(jù)了高達(dá) 60％ 的實(shí)驗(yàn)室時(shí)間，您需要的稱量解決方案需要確保在時(shí)間獲得精確的結(jié)果，以避免不合格誤差和成本高昂的返工。

梅特勒XPE 分析天平 XPE 105
現(xiàn)可靠地分析結(jié)果取決于原始樣品的精確度。 樣品制備中的任何錯(cuò)誤都會(huì)延續(xù)，甚至在之后的流程中被放大。 樣品制備占據(jù)了高達(dá) 60％ 的實(shí)驗(yàn)室時(shí)間，您需要的稱量解決方案需要確保在時(shí)間獲得精確的結(jié)果，以避免不合格誤差和成本高昂的返工。

梅特勒XPE 分析天平 XPE 105

StaticDetect™ 靜電檢測(cè)和靜電消除技術(shù)，加上*的 SmartGrid 網(wǎng)格秤盤為您提供具有重復(fù)性的可靠結(jié)果。 創(chuàng)新型 StatusLight™ 天平就緒指示燈以及利用 TestManager™ 測(cè)試管理功能輕松進(jìn)行日常測(cè)試可提高您的質(zhì)量管理且易于合規(guī)。

XPE 分析天平

觀看視頻，了解關(guān)于可靠稱量的詳細(xì)信息

輕松滿足法規(guī)

StatusLight 狀態(tài)指示燈使用顏色直觀地顯示天平的狀態(tài)：綠色表示準(zhǔn)備就緒，黃色表示警告，紅色表示錯(cuò)誤。 StatusLight 狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準(zhǔn)備好開始稱量任務(wù)。

限度地減少靜電荷

我們的 StaticDetect 靜電檢測(cè)技術(shù)可檢測(cè)樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯(cuò)誤超過用戶定義的限值，則出現(xiàn)警告；然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性，可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。

用戶引導(dǎo)過程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 實(shí)驗(yàn)室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動(dòng)數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和報(bào)告，具有 LabX 軟件的天平可以輕松實(shí)現(xiàn)??過程安全性和可追溯性要求，并支持您實(shí)現(xiàn)無紙化實(shí)驗(yàn)室。

結(jié)果可靠

超越系列分析天平將獲的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識(shí)相結(jié)合，確保您快速、可靠地獲的稱量結(jié)果！

無需接觸天平的操作

超越系列分析天平采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，旨在盡量使您的生活變得輕松。 SmartSens™ 紅外感應(yīng)器可使您揮一下手即可進(jìn)行操作，使稱量任務(wù)更加輕松，避免交叉污染問題（例如：打開/關(guān)閉防風(fēng)罩門）。

易于清潔

憑借*的網(wǎng)格秤盤和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩，始終確保稱量區(qū)域清潔、安全。

基于 RFID 的操作  滴定

在天平上安全地輸入滴定樣品信息，并將其輕松地通過滴定燒杯和 SmartSample RFID 標(biāo)簽傳輸至滴定儀。

每個(gè)數(shù)字都重要

在稱量催化劑、酶或高價(jià)值電子元件時(shí)，可讀性是提高準(zhǔn)確度的一個(gè)重要因素。

了解更多有關(guān)梅特勒-托利多手動(dòng)質(zhì)量比較器如何提高工業(yè)應(yīng)用精確度的信息。

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