X射線衍射-差值掃描熱量同時(shí)測試裝置是同時(shí)得到溫度變化過程中的XRD物相變化信息及DSC差值掃描熱量信息的產(chǎn)品。
這類產(chǎn)品是理學(xué)公司*的衍射儀和差熱分析儀的組合產(chǎn)品。

儀器簡介：

X射線衍射-差值掃描熱量同時(shí)測試裝置是同時(shí)得到溫度變化過程中的XRD物相變化信息及DSC差值掃描熱量信息的產(chǎn)品。
這類產(chǎn)品是理學(xué)公司*的衍射儀和差熱分析儀的組合產(chǎn)品。

主要特點(diǎn)：

1. 可對(duì)固體反応過程進(jìn)行方便分析。包括，各種有機(jī)、無機(jī)化合物的相變化；融解、結(jié)晶化、脫水及其它化學(xué)反応的變化。
   2. 可對(duì)熱分析中測試?yán)щy的，如物相轉(zhuǎn)換及化學(xué)變化過程中，生成物的有無、終生成物結(jié)晶性的確認(rèn)，進(jìn)行測量。
   3. 可在X線衍射測量的同時(shí)，測量化學(xué)変化的溫度、吸熱/放熱的區(qū)別及熱量。
   4. 選件包括，低溫、水蒸汽氣氛裝置。