微型光纖光譜儀的*美國SlerNet為您提供*光譜系統(tǒng)解決方案
——緊湊、便攜、穩(wěn)定、操作簡單、性價比高。
美國SlarNet 是專業(yè)微型光纖光譜儀供應商。其光譜儀外觀緊湊小巧，便攜設計，操作方便，性價比高，具有的電子系統(tǒng)和功能強大的探測器，是光纖光譜儀的*。光譜測量范圍在190nm-2300nm之間，波長分辨率小于0.1nm。探測器采取插拔式設計，適用于各種應用與工業(yè)用戶的多樣化需求。
BLACK-Comet光纖光譜儀 業(yè)績內(nèi)光譜覆蓋zui寬的凹面光柵光譜儀
280－900nm，zui大限度抑制雜散光。
- * 帶偏差校正的凹形光柵使光譜像近乎*
- *凹面光柵設計使設備無反射鏡將漫射光抑制在zui低限度
- *平面場在整個波長范圍具有均勻的分辨率（<1nm）
- *在400nm以下的UV區(qū)域比平面光柵靈敏度高出50%
- *設備集成度高（尺寸僅為2.7*4.3*6英寸）
- * 具有穩(wěn)固的抗震結構，無需內(nèi)部光學平差
BLUE-Wave小型光纖分光計
UV-VIS-NIR&OEM - *多種型號選擇波長范圍覆蓋190-1150nm
- * UVN光柵技術在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
- * 16bit的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，內(nèi)置存儲器，高速的USB2的接口
- *利用USB hub可以同時連接和驅(qū)動8個設備
- * TTL同步觸發(fā)可以做等離子檢測和LIBS
- *抗震動的小型堅固的金屬封裝
RED-Wave 近紅外InGaAs分光計
0.9-1.7um&0.9-2.3um - *TE制冷512的InGaAs陣列，像元大小25*500um
- * 利用2次校正，可以得到4000:1的信噪比
- * *的512探測器在25um的狹縫下具有5nm的分辨率
- *可選1024探測器25um的狹縫具有2.5nm分辨率
- *16bit數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換10倍的增益調(diào)制，高速USB2接口
- *抗震動的小巧堅固的金屬封裝（2.7*4.3*6英寸）
GREEN-Wave 小型的低價位光纖分光計
UV-VIS-NIR - *多種型號選擇波長范圍覆蓋190-1150nm
- * UVN光柵技術在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
- *12bit的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，內(nèi)置存儲器，USB1接口
- * 光學分辨率達到0.3nm（FWHM）
- * 抗震動的小巧堅固的金屬封裝
- *低成本應用的理想選擇比如教學實驗和分光輻射度計
系統(tǒng)應用
LIBS系統(tǒng) 集成了微型光纖光譜儀和高峰值功率的小型激光器的LIBS系統(tǒng)（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），可以進行野外實時元素定性分析。此LIBS系統(tǒng)手提箱般的大小，優(yōu)良的抗震性和良好的溫度穩(wěn)定性，使整套系統(tǒng)非常方便于野外作業(yè)。系統(tǒng)可以依靠電池或直流電源供電。通過一臺1064nm Nd:YAG 激光器（峰值功率達到MW量級）聚焦后打在目標物體上，以產(chǎn)生等離子體。在等離子體冷卻湮滅的過程中，等離子體束中被激活的原子會發(fā)射出與元素有關的特性光譜。一般元素的發(fā)射光譜都在200-980nm的波長范圍內(nèi)。通過SlarNet提供的Spectral ID元素發(fā)光光譜數(shù)據(jù)庫，系統(tǒng)可以直接給出譜線所對應的各種元素。LIBS系統(tǒng)的優(yōu)點在于，不需要任何樣品準備，測試時間非常短（一般在一秒鐘之內(nèi)）。
化學測量系統(tǒng)
ChemWiz-2000 是一款實用型的化學用光譜儀，可以用來進行各種物質(zhì)的成份分析、濃度分析以及物質(zhì)鑒別。很多物質(zhì)都有其特定的吸收峰或吸收帶，我們只要測出該物質(zhì)的吸收曲線，既可以對該物質(zhì)進行一系列分析，如所含成分、含量等。ChemWiz-2000還可以實現(xiàn)在很多生產(chǎn)過程中實時監(jiān)控。
輻射度測量
系統(tǒng)主要用于測量發(fā)光體的各波長的輻射度分布。輻射度光譜儀可以用來測量LED的光強，xy chromaticity （CIE 1931），純度，和主要波長等。光譜儀需要配合余弦接受器或積分球一起使用。SlarNet在輻射度光譜儀出廠之前,全部經(jīng)過NIST（美國國家標準與技術研究院）標準光源的校正過，以保證測量結果的準確性。此外SlarNet還提供輻射度校正光源供客戶自己進行校正。
薄膜測量
在薄膜測量方面，光譜儀應用非常廣泛。薄膜厚度測量是基于白光干涉的原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數(shù)學函數(shù)計算出薄膜厚度。對于單層膜來說，如果已知薄膜介質(zhì)的n和k值就可以計算出它的物理厚度。
SlarNet可提供低成本的薄膜測量系統(tǒng)。可檢測多層結構，單層的，粗糙的，已經(jīng)薄厚不均的樣品。測量膜厚范圍50A-20um，精度為0.2% 或者10A
熒光光譜測量針對熒光光譜測量，美國SlarNet公司提供350-1000nm，200-850nm和250-900nm三種光譜儀配置。樣品被特定光譜范圍的激發(fā)光照射后，產(chǎn)生波長更長的熒光。用戶可以通過特殊的樣品池或者光纖探頭對熒光進行探測。光譜由一根1000um的光纖傳輸?shù)焦庾V儀。如果需要，我們還能提供各種多通道光譜儀配置。
比較常用的激發(fā)光源是470nm藍光LED燈（SL1-BLUE），這種光源線寬為30nm，只需要20mA驅(qū)動電流，而且價格非常便宜。另外脈沖的氙燈（SL4-XENON）配合濾波器使用，可以提供更高強度的激發(fā)光。SlarNet提供的氘燈（SL3-DEUT）則可以提供高功率連續(xù)激發(fā)光源。系統(tǒng)提供IEEE1248和USB-2.0兩種接口。光譜儀驅(qū)動電流為5V，系統(tǒng)附帶有交流轉(zhuǎn)直流變壓器。
顏色測量 SlarNet微型光譜儀可以對各種樣品進行顏色測量和對比，通過光纖反射探頭可以對固體樣品的顏色進行測量；通過浸入式光纖探頭和透射試管可以對液體的顏色進行測量。系統(tǒng)附帶功能強大的SpectraWiz，而且這套軟件是*免費的！對于顏色測量，SpectraWiz系統(tǒng)提供標準的CIE 1976 L* a* b* （CIELAB）顏色空間數(shù)據(jù)。L*代表顏色的亮度。正a*值代表紅色，負a*值代表綠色。與此相似，正b*值代表黃色，負b*值代表藍色。L*a*b*值可由樣品（物體）的CIE三刺激值X，Y，Z和標準光源的三刺激值Xn, Yn, Zn推導得到。
對于比色測量，需要先對一個標準的樣品進行測試并保存其光譜。然后系統(tǒng)可以根據(jù)所測樣品和標準樣品的光譜差別計算出△E，△E用以表征兩種樣品顏色的差別。對于需要多束光得color monitors過程,SlarNet還可以提供相應得多通道光譜儀。
