供應(yīng)OSP-ST4080膜厚測量儀 ST4080-OSP儀器通過進(jìn)行PCB/PWB上OSP鍍層厚度的完整性、可靠性及膜層形態(tài)的定量分析，進(jìn)而檢測OSP鍍層的應(yīng)用可靠性。
l 實(shí)時無損檢測PCB/PWB上OSP鍍層厚度
l 在OSP鍍層表面864×648μm的測試區(qū)域內(nèi)同時獨(dú)立測量單個面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度
l 在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測試區(qū)域內(nèi)同時獨(dú)立測量單個面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度
l 檢測分析的鍍層厚度范圍在0.035－3μm
l 繪制OSP鍍層厚度三維分布圖
l 可在PCB板上選定特定區(qū)域針對OSP鍍層厚度進(jìn)行有效的質(zhì)量監(jiān)控、失效分析以改善鍍層質(zhì)量。
l 光譜范圍：420nm－640nm
l 自動測試平均厚度
ST4080-OSP檢測原理
ST4080-OSP儀器通過分析可見光譜中不同波長的光譜分別在銅箔表面和OSP鍍層表面上反射后形成的新的關(guān)于波長的數(shù)據(jù)信息來測量OSP鍍層的厚度。從OSP鍍層表面反射的光線與從基層銅箔表面反射的光線相互干涉從而形成新的干涉圖譜。該圖譜會形成與光強(qiáng)相關(guān)的振幅曲線，ST4080-OSP儀器通過分析該曲線的振幅和頻率以確定OSP鍍層厚度和完整性。
為什么選擇ST4080-OSP進(jìn)行OSP鍍層厚度測試
Ultraviolet－Visible Characterization （UV-VIS）
l 間接有損分析
l 需要制備高精度的樣品才能得到較為精確的結(jié)果
l 無法模擬實(shí)際OSP產(chǎn)品的情況
l 直接有損分析
l 由于OSP原料的差異性會導(dǎo)致潛在的測量誤差
l 無法判斷OSP鍍層的實(shí)際厚度分布情況
l 現(xiàn)場實(shí)時高精確度檢測實(shí)際產(chǎn)品上OSP鍍層厚度
l 檢測實(shí)際生產(chǎn)產(chǎn)品，不再使用檢驗銅箔
l 量化分析OSP鍍層厚度，完整性及可靠性
ST4080-OSP的特點(diǎn) l 在OSP鍍層表面864×648μm的測試區(qū)域，同時獨(dú)立測量單個面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。
l 在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測試區(qū)域，同時獨(dú)立測量單個面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。
l OSP鍍層的實(shí)際附著情況可以通過三維厚度分布圖進(jìn)行清晰顯示。
l 實(shí)時檢測實(shí)際產(chǎn)品上OSP鍍層厚度，無需樣品制備工序。
l ST4080-OSP儀器測量技術(shù)對接受測試的PCB/PWB產(chǎn)品沒有任何不利、破壞影響。
l 可在PCB/PWB產(chǎn)品生命周期的不同階段進(jìn)行檢測，以監(jiān)控OSP鍍層在生產(chǎn)和儲存過程中可能產(chǎn)生的不良變化。
l ST4080-OSP儀器可實(shí)時檢測PCB/PWB上OSP鍍層厚度和質(zhì)量。深圳市瑞環(huán)儀器儀表有限公司是一家專業(yè)從事電鍍、PCB、SMT、半導(dǎo)體等電子行業(yè)品質(zhì)檢測儀器、試驗設(shè)備及輔助材料的*，集經(jīng)營銷售、、售后服務(wù)于一體。憑借自身強(qiáng)大的、經(jīng)濟(jì)基礎(chǔ)、客戶資源、銷售體系，在行業(yè)中與廣大廠商取得了良好的合作，建立了完善的銷售及服務(wù)體系。 公司下設(shè)市場部、銷售部、研發(fā)部、售后服務(wù)部，為客戶提供*的技術(shù)服務(wù)和整套的解決方案；自公司成立以來，本著“精誠所至，金石為開”的精神，以“客戶*，質(zhì)量*”為宗旨，致力于為電鍍、PCB、SMT、半導(dǎo)體等電子行業(yè)生產(chǎn)廠商及科研機(jī)構(gòu)提供高性能的檢測儀器和優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。
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