FISCHERSCOPE-XDL-B X射線熒光測厚儀
FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。XDL-B 的特色是特別的距離修正方法。 DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。

FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。XDL-B 的特色是特別的距離修正方法。 DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL?-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。

典型的應用范圍如下：
    單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
    二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
    三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
    雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
    雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

一、德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀介紹：
1、適用于Windows®2000或Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。 
2、頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產品。 
3、能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化。 
4、畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）
5、圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 

6、對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)

二、德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀特點：
1、FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows® 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。 
2、XDL®-B 的特色是特別的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL®-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進行測量。

三、德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀技術參數：
1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根據技術標準DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
2.原始射線從上至下； 
3.X-射線管高壓設定可調節(jié)至*佳的應用：50kV，40kV或30kV； 
4.單個0.3mm直徑(12 mils)的標準視準器，在附加費用的基礎上可選擇0.05×0.3 mm(2×12 mil)帶槽視準器；或直徑0.1mm;或直徑0.2mm；或0.4X0.4mm方形。
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大約為105kg（120lbs）； 
6.帶槽箱體的內部尺寸：（高×寬×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）帶向上回轉箱門； 
7.嵌入式固定的測試件支承板，需要時可移去以適用于大件的超出尺寸的測試工件。 
8.從X-射線頭部（X-射線管，成比例的反射接收器及視準器）至測試件平面支承板有三種可選擇的固定距離。需要的設定距離（見背面）必須在定貨時明確（標準設定：中間位置） 
9.試件查看用彩色攝像機 ，
10.帶有LED狀態(tài)指示燈的測量開始/結束按鈕與測試箱集成在一體