Fischer X熒光射線測厚儀，菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210設計理念

Fischer X熒光射線測厚儀

Fischerscope X-RAY XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

Fischerscope X-RAY XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

Fischer測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有：

? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣

品平臺的運行模式以及固定或者可調節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設定不同型號的儀器以滿足實際

應用的需求。

Fischerscope X-RAY XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統(tǒng)

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻

窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了

激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。

測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。

例如大型的線路板。