XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置垂直主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖，高精度測微頭，能夠調(diào)整水平的花崗巖底座，符合《JJF1110-2003建筑工程質(zhì)量檢測器組校準(zhǔn)規(guī)范》。該儀器用來檢測垂直檢測尺的示值誤差及內(nèi)外直角檢測尺的示值誤差。

一、垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置儀器簡介：

    XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置垂直主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖，高精度測微頭，能夠調(diào)整水平的花崗巖底座，符合《JJF1110-2003建筑工程質(zhì)量檢測器組校準(zhǔn)規(guī)范》。

二、垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置儀器用途：

    XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置用來檢測垂直檢測尺的示值誤差及內(nèi)外直角檢測尺的示值誤差。
三、結(jié)構(gòu)原理：

    XR-2000C型垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置采用比較法測量，由數(shù)顯測微頭行進(jìn)距離與回轉(zhuǎn)軸軸線、導(dǎo)軸軸線間距離L1之比組成標(biāo)準(zhǔn)角β1（sinβ1= L1/R），比較測量垂直度檢測尺轉(zhuǎn)角β2（sinβ2= L2/R）  的示值誤差,其原理是采用數(shù)顯測微頭螺旋副等進(jìn)傳動(dòng)原理，使螺桿的回轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)變?yōu)橹本€運(yùn)動(dòng)，將垂直度檢測尺的角位移轉(zhuǎn)化為直線位移，用線值表示示值誤差ΔL= L2-L1。

    測量原理：L1：數(shù)顯測微頭行進(jìn)距離mm；L2：垂直度檢測尺示值mm；β1: 標(biāo)準(zhǔn)角；β2：垂直度檢測尺轉(zhuǎn)角 ；R：回轉(zhuǎn)軸軸線、導(dǎo)軸軸線間距離mm；ΔL：示值誤差：mm。

四、 使用方法：

    旋動(dòng)測量裝置（數(shù)顯測微頭）在零位的兩個(gè)方向進(jìn)行示值校準(zhǔn)，分別在校準(zhǔn)位置從數(shù)顯測微頭上，給出相對于校準(zhǔn)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)值，從垂直度檢測尺的指示表上讀數(shù)，讀數(shù)值減去標(biāo)準(zhǔn)值即為相應(yīng)點(diǎn)的示值誤差。

五、技術(shù)參數(shù)：

    1、型號：XR-2000C型；
    2、高度：2000mm；
    3、數(shù)顯測微頭分辨力：0.01mm/m；
    4、數(shù)顯測微頭行程：0-50mm；
    5、數(shù)顯測微頭誤差：±0.003mm。
六、內(nèi)外直角檢測尺校準(zhǔn)裝置技術(shù)參數(shù)：
    1、型號：XR-2000C；
    2、高度：300mm；
    3、寬度：250mm；
    4、厚度：50mm；
    5、工作面的相互垂直度：0.01mm/300；
    6、工作面的平面度：0.005mm；
    7、數(shù)顯測微頭分辨力：0.01mm/m；
    8、數(shù)顯測微頭行程：0-25mm；
    9、數(shù)顯測微頭誤差：±0.003mm；
    10、花崗巖平板的平面度：0.006mm；
    11、花崗巖外形尺寸：800X300X150mm。
七、儀器配置：
    1、垂直度檢測尺校準(zhǔn)裝置：1臺(tái)；
    2、內(nèi)外直角檢測尺校準(zhǔn)裝置：1臺(tái)；
    3、水平調(diào)整支腳：1套；
    4、說明書：1份；
    5、出廠證書：1份；
    6、保修卡：1份。