Xeuss 3.0 Xenocs小角X射線散射儀
Xeuss 3.0是新一代實驗室的全自動小角/廣角/超小角散射線站，Xeuss 3.0 作為Xeuss實驗室線站新一代產(chǎn)品，其測試能力，產(chǎn)品性能及生產(chǎn)力都提升到了一個新的層次。
1. 全自動的配置使靈活性達到更大化：只需一鍵，就能從SWAXS轉(zhuǎn)換到2D-WAXS、從Cu靶切換到Mo靶、從USAXS到SAXS
>探測器在真空中全自動的長距離移動 (全自動 (GI)-SAXS/WAXS的轉(zhuǎn)換)
>多可配備3個可自動切換的光源 (Cu, Mo, Cr, Ga)
>內(nèi)置 Bonse-Hart 模塊后可以自動連續(xù)測量從SAXS到USAXS范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)
>極寬的q值范圍可以滿足廣大的用戶群體
>遠程操作節(jié)約了科研時間 (無任何人工操作)
>模塊化實驗線站為儀器的*升級保留了多種選擇
2. 極限測試性能：Xenocs的新設(shè)備使得測試所需時間縮短、測試范圍更寬、動態(tài)測量范圍更廣
>WAXS到SAXS的全機械化運動使探測面積更大.
>設(shè)置高通量模式可以進行動力學(xué)反應(yīng)測試以及增大信噪比
>配備Eiger 2 R 探測器可進行無beamstop操作(無窗混合像素探測
>可在實驗室中獲取任何類型樣品的高質(zhì)量數(shù)據(jù)
>準(zhǔn)確地測量強度和進行數(shù)據(jù)建模 (粒徑分布)
>可以在實驗室中進行稀釋后低對比度的樣品測試和快速動力學(xué)反應(yīng)測試
3. 超大樣品空間：更大的真空樣品倉，更便于操作和選擇樣品環(huán)境
>所有檢測裝置在樣品周圍移動而樣品在操作過程中保持不動
>空氣和真空環(huán)境下都能進行樣品的高質(zhì)量測量
>在特定和大樣品環(huán)境下都能輕松集成 (在規(guī)范操作下）
>樣品可進行原位測試
>為實驗配置預(yù)留了足夠的空間
Xeuss 3.0 Xenocs小角X射線散射儀主要優(yōu)點&特點：
1、更高的靈活性
為廣大用戶群體提供全遠程自動操作的、具備表征超大納米尺度范圍的*工具。
*納米材料的發(fā)展和設(shè)計需要在超大納米尺度范圍上進行表征。
Xeuss 3.0具備這樣的測試能力，通過*自動改變配置，采集的散射矢量q可跨越5個數(shù)量級。
因此，對于給定的單個或批量樣品，任何經(jīng)過培訓(xùn)的用戶都可以在完整的測量范圍內(nèi)遠程操作系統(tǒng)。
可自動更改的測量設(shè)置包括：
- Q-Xoom通過探測器的自動平移來改變測量分辨率
- 使用Bonse Hart USAXS模塊可以實現(xiàn)連續(xù)的SAXS/USAXS測量
- X光源能量可選，提供3個可選光源
- 用于原位SWAXS研究的可移動WAXS探測器
+ Q-Xoom在真空環(huán)境中移動探測器
Q-Xoom–享受全范圍計算機控制的探測器行程的靈活性
- 特性：探測器在真空中沿光路自動移動1 ~ 4米（取決于所選型號）
- 虛擬探測器的探測面積大于200 x 200 mm2
- 在實驗過程中，*遠程操作和實時數(shù)據(jù)顯示（二維和一維），減少了停機時間，優(yōu)化您的實驗過程
- 將樣品放在固定位置，為樣品環(huán)境留出空間
- 在真空中用純凈光、無窗探測器測試或在空氣中用X-Cones進行測試
+ 自動的Bonse-Hart USAXS模塊
測量尺度可達4.5微米，并獲取納米尺度信息
- 內(nèi)外移動的分析晶體可確保在同一個樣品上USAXS和SAXS能夠自動連續(xù)采集
- 高質(zhì)量SAXS和USAXS數(shù)據(jù)合并
- 無需人工操作或儀器重置
- USAXS和SAXS/WAXS入射光在一條直線上，故無需移動樣品
+ 多種光源
對任何種類樣品(吸收，熒光，特征尺寸)的實驗進行優(yōu)化
- 在自動切換光源時儀器可自動校準(zhǔn)光路
- 多達3個光源模塊 （Cu, Mo, Cr）可以與Ga MetalJet光源一起使用
- 不同光源的高精度切換，確保不同波長對同一樣品的連續(xù)測量
2、高性能
Xeuss 3.0實驗裝置具備大的靈活性，用于測試各種樣品并盡可能獲取*質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
尤其，以下關(guān)鍵特點使用戶得以優(yōu)化*的實驗和結(jié)果:
- 高光通量設(shè)置和內(nèi)置低背景無噪音探測器，適合快速動力學(xué)測試
- 提供大探測面積，并且探測器可從WAXS位置自動移動到遠距離的SAXS位置，優(yōu)化分辨率和信噪比
- 遠距離的SAXS設(shè)置可測量大特征尺寸樣品(> 300 nm)
- 可選的USAXS模塊進行超大結(jié)構(gòu)表征(> 4 μm)
+ 無beamstop數(shù)據(jù)采集
- 杜絕來自Beamstop邊緣或探測器窗口膜的寄生散射，使低q處的散射信號不受干擾
- 在采集過程中同時記錄直通光和樣品散射信號，得到精確的透射強度，用于獲取精確的強度校正
- 另外，采集的直通光信號將整合到數(shù)據(jù)分析軟件（XSACT），提高解析結(jié)果的準(zhǔn)確性
+ 純凈光技術(shù)
- 作為一個標(biāo)準(zhǔn)的解決方案，Xeuss 3.0集成低維護成本的高性能微聚焦光源，亮度達到了之前高功率旋轉(zhuǎn)陽極靶光源才能實現(xiàn)的水平。
現(xiàn)在實驗室中就可進行諸如動力學(xué)研究或稀釋樣品的納米粒子形狀分析的高級實驗。另外，通過結(jié)合Xenocs公司的X射線光束和自動無散射準(zhǔn)直系統(tǒng)實現(xiàn)高分辨率（光束Δq低），這對研究大特征尺寸的樣品或進行準(zhǔn)確中間相的分析都非常重要。
通過以下組合實現(xiàn)高光通量和高分辨率：
- 持久的高亮度微聚焦光源
- 專項的具有高立體采集角的單次反射多層膜光學(xué)聚焦鏡
- 樣品和探測器上光束尺寸二維可控
為了保證X射線散射的*測試質(zhì)量，包括稀釋的或?qū)Ρ榷鹊偷臉悠?，Xeuss 3.0將10多年研發(fā)的高光通量和低噪音技術(shù)相結(jié)合。
主要集成功能包括：
- 從聚焦鏡到探測器傳感層的全真空系統(tǒng)
- 第三代無散射準(zhǔn)直 （于2008年由Xenocs*引入市場）
- 真空中運行的無窗口探測器
- 混合像素光子計數(shù)探測器
- 專項的宇宙背景自動扣除技術(shù)，減少環(huán)境寄生散射的影響
配備MetalJet光源，用于非常快的動力學(xué)研究
+ Q-Xoom具有非常大的探測面積
Q-Xoom采用電腦控制探測器全程移動，自動調(diào)節(jié)樣品到探測器距離，提供大的測試靈活性來優(yōu)化實驗。
虛擬探測器增強測試能力：
在任意的樣品到探測器距離下，結(jié)合圖譜重構(gòu)技術(shù)，任何規(guī)格的探測器的采集面積都將大于200 mm2 x 200 mm2。
超大探測面積有利于優(yōu)化各向異性樣品信號的方位角覆蓋，還有利于高分辨率測試，例如在距離樣品較遠處用偏置的探測器采集到更大的散射矢量，以表征較小的尺度。
3、樣品空間大
Xeuss 3.0的超大樣品腔有利于固定實驗過程中的樣品，這是目前以至今后的理想的X射線散射平臺儀器。*材料的研究和表征需要集成特定的或定制的樣品環(huán)境。由于其*的線站理念，Xeuss 3.0非常適用于這種新項目。
包括：
- 在測試過程中樣品在大樣品腔中保持固定（軸方向可持續(xù)觀察樣品，智能集成用戶自定義樣品環(huán)境）
- 樣品臺的長距離平移可用于空間分布掃描和批量測試
- 多種標(biāo)準(zhǔn)樣品環(huán)境，并具備樣品臺識別功能
