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簡單介紹XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松線陣背照式CCD， 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態(tài)范圍?？梢詮V泛應(yīng)用在理化分析、生物樣品、半導(dǎo)體材料檢測，光學(xué)檢測和材料檢測等領(lǐng)域。 XV400在0-40度，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩(wěn)定性，能夠應(yīng)用于定性、定量檢測場景。
XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松線陣背照式CCD， 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態(tài)范圍。可以廣泛應(yīng)用在理化分析、生物樣品、半導(dǎo)體材料檢測，光學(xué)檢測和材料檢測等領(lǐng)域。 XV400在0-40度，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩(wěn)定性，能夠應(yīng)用于定性、定量檢測場景。
◆ 響應(yīng)強度大：在檢測物質(zhì)時光譜響應(yīng)強度大；
◆ 分辨率高：分辨率<1.0nm@600um 光纖；
◆ 良好的熱穩(wěn)定性：光譜波長偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 靈敏度偏差<2%。
產(chǎn)品參數(shù) | |
| 項目 | 值 |
| 尺寸 | 95×71×41mm |
| 重量： | ~350g |
| 探測器 | 濱松線陣背照式CCD |
| 波動范圍 | 180-430nm |
| 像素 | 2048 *64 有效像元 |
| 光譜分辨率 | <1 nm |
| 信噪比 | 450:1 |
| A/D 采樣 | 16bit |
| 暗噪聲 | 55 RMS |
| 動態(tài)范圍 | 1200：1 |
| 積分時間 | 4ms-40 second |
| 連接器 | USB |
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