一.功能描述：
四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數據、PC軟件采集和數據處理實現自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數據統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件.
FT-3120 系列半自動四探針測試儀
二.適用范圍：
晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結擴散片；*電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.
三.技術參數：
規(guī)格型號 | FT-3120A | FT-3120B | FT-3120C | FT-3120D |
1.電阻 | 10^-3～2×10^4Ω | 10^-5～2×10^5Ω | 10^-6～2×10^5Ω | 10-4～1×107Ω |
2.方塊電阻 | 10^-3～2×10^4Ω/□ | 10^-5～2×10^5Ω/□ | 10^-6～2×10^5Ω/□ | 10-4～1×107Ω/□ |
3.電阻率 | 10^-4～2×10^5Ω-cm | 10^-6～2×10^6Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm | 10-5～2×108Ω-cm |
4.測試電流 | 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA， 10mA，100mA | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | 10mA ---200pA |
5.電流精度 | ±0.1% | ±2% |
6.電阻精度 | ≤0.3% | ≤10% |
7.PC軟件操作 | PC軟件界面：電阻、電阻率、電導率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、數據管理分析：過程數據，大、小值，均值，方差，變異系數，樣品編號，測試點數統(tǒng)計報表生成等 |
8.探針范圍： | 探針壓力為100-550g；依據樣品接觸需要手動調節(jié) |
9.探針 | 針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3% 圓頭銅鍍金材質，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規(guī)格可定制 |
10.可測晶片 尺寸選購 | 晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）； 方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm |
11.分析模式 | 自動或手動單點模式 |
12.加壓方式 | 測量重復性：重復性≤3% |
13.安全防護 | 具有限位量程和壓力保護;誤操作和急停防護;異常警報 |
14.測試環(huán)境 | 實驗室環(huán)境 |
15.電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W |
16.選購項目 | 電腦和打印機 |
