SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術、雙CCD可預覽、一鍵式測量等特點，可提供實驗室暗箱、實驗室平臺及顯微測量等多種操作模式。后期光譜提取與特征提取等技術可上滿足用戶的需求，在文物保護、修復、真?zhèn)巫R別等方面具有重要作用。

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)

目前文物鑒定的傳統(tǒng)方法中很多是有損或微損的，需取樣才能分析；而且，有損測試的分析結果只局限于測試點或取樣點，而不能*代表未測試部位的信息。高光譜成像技術能同時提供待測物整體的圖像和光譜信息，可以對目標物進行高光譜識別和分類；其具有快速測量、能進行精細分類與識別等優(yōu)點，且對文物無損傷，在文物分析領域具有廣闊的應用前景。

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)具有*的內(nèi)置推掃技術、雙CCD可預覽、一鍵式測量等特點，可提供實驗室暗箱、實驗室平臺及顯微測量等多種操作模式。后期光譜提取與特征提取等技術可上滿足用戶的需求，在文物保護、修復、真?zhèn)巫R別等方面具有重要作用。

※ 快速無損獲取高光譜圖像信息，數(shù)據(jù)真實可靠

※ 雙CCD設計，直接預覽測量區(qū)域，所見即所得

※ 內(nèi)置式掃描，圖像無畸變，自動扣除暗電流

※ 不僅可獲取目標反射率，還可獲取輻亮度值

※ 可自動連續(xù)測量，監(jiān)測目標光譜動態(tài)變化

※ 軟件自帶數(shù)據(jù)標定、高光譜分類等多種功能

※ 軟件實時分析，光譜提取、光譜分類與結果輸出

※ 可滿足暗箱系統(tǒng)-室內(nèi)實驗臺-顯微鏡等多種使用條件

SOC710CR高光譜文物成像系統(tǒng)應用案例：

產(chǎn)地：美國