本測試儀內(nèi)存窗口信息是基于對器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線測量后得出的。
鐵電隨機(jī)存儲器測試儀應(yīng)用領(lǐng)域：
鐵電存儲器的生產(chǎn)
生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，以便不會影響到CMOS生產(chǎn)過程
在MHz的操作速度下，單級電滯回線數(shù)據(jù)
鐵電隨機(jī)存儲器測試儀優(yōu)點：
生產(chǎn)過程的工藝優(yōu)化
在MHz范圍的時間影響測試
適用于2T-2C 設(shè)計和1T-1C設(shè)計
從模擬測試數(shù)據(jù)得出內(nèi)存窗口信息
客戶可定制測試環(huán)境
升級服務(wù)
客戶支持
程序功能：
可以在單一器件上進(jìn)行電滯回線、PUND脈沖測試等測試過程。
上升時間*低可實現(xiàn)1μm，自定義的測試脈沖可以用于測試不同類型的失效機(jī)制。預(yù)極化脈沖參數(shù)可以在測試序列里單獨設(shè)置。
可以使用Access Time程序進(jìn)行相同脈沖強(qiáng)度下不同幅值相同脈沖寬度或相同脈沖幅值不同脈沖寬度的測試。
這些測試是基于*的技術(shù)：原位寄生電容補償。
特點：
FeRAM測試儀是用來記錄測試單元電滯回線的，測試儀生成所需要的時間。
如果芯片的布局發(fā)生變化，可以自動獲取材料特性較大的陣列。這種情況下，測試儀是用一個開關(guān)盒和一個探針臺工作的。軟件可以自動調(diào)整設(shè)置的參數(shù)。
參數(shù)的統(tǒng)計評價是通過aixPlorer完成的。
FeRAM測試儀的優(yōu)點就是可以使重要信息流程化，從而提高產(chǎn)量，降低了成本，從而減少了產(chǎn)品上市的時間。相關(guān)的數(shù)字結(jié)果和模擬實驗提供了重要信息。
FeRAM測試儀擁有高分辨測量和速度到微秒的測量功能。
本測試儀內(nèi)存窗口信息是基于對器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線測量后得出的。
鐵電隨機(jī)存儲器測試儀應(yīng)用領(lǐng)域：
鐵電存儲器的生產(chǎn)
生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，以便不會影響到CMOS生產(chǎn)過程
在MHz的操作速度下，單級電滯回線數(shù)據(jù)
鐵電隨機(jī)存儲器測試儀優(yōu)點：
生產(chǎn)過程的工藝優(yōu)化
在MHz范圍的時間影響測試
適用于2T-2C 設(shè)計和1T-1C設(shè)計
從模擬測試數(shù)據(jù)得出內(nèi)存窗口信息
客戶可定制測試環(huán)境
升級服務(wù)
客戶支持
程序功能：
可以在單一器件上進(jìn)行電滯回線、PUND脈沖測試等測試過程。
上升時間*低可實現(xiàn)1μm，自定義的測試脈沖可以用于測試不同類型的失效機(jī)制。預(yù)極化脈沖參數(shù)可以在測試序列里單獨設(shè)置。
可以使用Access Time程序進(jìn)行相同脈沖強(qiáng)度下不同幅值相同脈沖寬度或相同脈沖幅值不同脈沖寬度的測試。
這些測試是基于*的技術(shù)：原位寄生電容補償。
特點：
FeRAM測試儀是用來記錄測試單元電滯回線的，測試儀生成所需要的時間。
如果芯片的布局發(fā)生變化，可以自動獲取材料特性較大的陣列。這種情況下，測試儀是用一個開關(guān)盒和一個探針臺工作的。軟件可以自動調(diào)整設(shè)置的參數(shù)。
參數(shù)的統(tǒng)計評價是通過aixPlorer完成的。
FeRAM測試儀的優(yōu)點就是可以使重要信息流程化，從而提高產(chǎn)量，降低了成本，從而減少了產(chǎn)品上市的時間。相關(guān)的數(shù)字結(jié)果和模擬實驗提供了重要信息。
FeRAM測試儀擁有高分辨測量和速度到微秒的測量功能。
