華測(cè)儀器 陶瓷壓電分析儀/鐵電/壓電
Huace FE-2000
華測(cè)儀器 鐵電分析儀產(chǎn)品介紹：
Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目前市場(chǎng)上較xianjin的設(shè)備，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍并且在世界鐵電測(cè)試領(lǐng)域高測(cè)試精度能力shouquyizhi。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。
華測(cè)儀器 鐵電分析儀儀器配置：
Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)在±500V內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或以上)、RAM(8G 或以上)、固態(tài)硬盤(250G 或以上)、網(wǎng)卡、USB 接口、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
可擴(kuò)展部件：
可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。
? 塊體測(cè)試夾具：用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。
? 薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測(cè)試。
? 薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)：-196℃到+600℃可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。
? 薄膜探針臺(tái)（國(guó)產(chǎn)）：室溫鐵電測(cè)試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)：
?內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器) ：±10V （可外接不同型號(hào)放大器）
?可外接高壓放大器 （最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV
?ADC位數(shù)：18位
?zui小電荷分辨率：<10fC
?zui大電荷分辨率：27.6mC
?zui小面積分辨率：<1μ2
?zui大面積分辨率：＞100cm2
?zui大電滯回線測(cè)試頻率：270KHz @10V
?zuidi測(cè)試頻率：0.03Hz
?zui小脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) ：0.5us
?zui小脈沖上升時(shí)間(5V)(此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：400ns
?zui大脈沖寬度：1s
?脈沖間最大延遲時(shí)間：40ks
?內(nèi)部時(shí)鐘：25ns
?zui小的泄漏電流 ：<1pA
?zui大小信號(hào)上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz
?zui小小信號(hào)上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz
?輸出上升時(shí)間控制：103 scaling
?輸入電容：~60fF
?阻抗輸入：Yes
鐵電系統(tǒng)主機(jī)優(yōu)勢(shì)在于他易于擴(kuò)展、實(shí)用性，軟件系統(tǒng)兼容目前主流品牌，軟件無(wú)縫切換。為用戶降低成本。
█ 介電測(cè)試分析模塊
█ 熱激發(fā)極化電流測(cè)試TSDC
█ 擊穿電壓測(cè)試
█ 高壓極化
█ 絕緣電阻測(cè)試
█ 四探針測(cè)試
█ 壓電性能測(cè)試
█ 鐵電參數(shù)測(cè)試
█ 熱釋電性能測(cè)試
█ 居里溫度測(cè)試
