DualScope FMP40雙功能涂鍍層集成了兩種測(cè)量方法：
DualScope FMP40能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測(cè)量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測(cè)量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。由于集合了兩種測(cè)量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測(cè)量過(guò)程中同時(shí)測(cè)得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來(lái)。 FMP30和FMP40型儀器比基本款的FMP10和FMP20型儀器擁有更多的功能。例如：可以?xún)?chǔ)存更多應(yīng)用程式的大內(nèi)存、大量的圖形和統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能等。這樣就能適用于更加廣泛的應(yīng)用、滿(mǎn)足客戶(hù)更高的要求。上下限公差的自由輸入可以幫助客戶(hù)對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行更全面的分析和統(tǒng)計(jì)。更多種測(cè)量方式可供選擇，幫助您完成完美的測(cè)量。
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儀器功能:
□ 自動(dòng)識(shí)別底材 (FMP40).
□ 外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的 內(nèi)壁）
□ 使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）
□ USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)
□ 電池供電和交流電源(可選件)供電
測(cè)量方式：
□ 連續(xù)測(cè)量模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內(nèi)模 擬顯示
□ 可使用矩陣測(cè)量模式進(jìn)行大量測(cè)量
□ 取平均值：只儲(chǔ)存若干個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值
□ 區(qū)域測(cè)量：提起探頭后才儲(chǔ)存測(cè)量過(guò)程中的平均值
□ 自動(dòng)測(cè)量：無(wú)需提起探頭，儀器自動(dòng)獲得數(shù)值
□ 離奇值控制：儀器可自動(dòng)排除錯(cuò)誤的測(cè)量值
應(yīng)用程式存儲(chǔ)：
□ 可以?xún)?chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。
□ 可以?xún)?chǔ)存 20,000 個(gè)讀數(shù)
□ 可以?xún)?chǔ)存 4,000 個(gè)數(shù)據(jù)組
□ 數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息
□ 糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)
□ 應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的
□ 歸一化/校準(zhǔn)信息
□ 通過(guò)電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱(chēng)（可選件： MP-Name軟件
配合測(cè)量臺(tái)對(duì)曲面的陽(yáng)極氧化鋁進(jìn)行測(cè)量
使用FMP40以及FDX10兩用探頭在室外進(jìn)行測(cè)量。
鍍層/底材的種類(lèi)是選擇探頭非常重要的依據(jù)。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測(cè)量點(diǎn)的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時(shí)需要考慮的因素。曲率補(bǔ)償探頭（渦流法）適用于不同曲面的樣品；雙觸點(diǎn)探頭能夠在粗糙的表面上得到精確的結(jié)果。 FMP1、 FMP20、 FMP30、 FMP40型儀器都可以通過(guò)連接不同的探頭來(lái)滿(mǎn)足您不同的測(cè)量需求。
