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2016年新年伊始，日本電子株式會社（JEOL）即同步推出了新款場發(fā)射透射電鏡JEM-F200。 為了**整合近年發(fā)展起來的透射電鏡上的各種功能，JEM-F200進行了全新設計，在保障各種功能達到極限的同時，追求操作的簡單化和自動化，為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗?！笞詣訕悠方粨Q系統(tǒng)該系統(tǒng)由液氮冷卻樣品臺和冷凍傳輸機構構成，冷凍傳輸機構能直接將冷凍狀態(tài)下的樣品自動地傳送到冷臺，液氮根據(jù)需要會自動地提供給液氮箱。該系統(tǒng)可存儲12個冷凍的樣品，并且可以任意取出和交換一個或多個樣品，其余樣品還可冷卻保存在自動樣品交換系統(tǒng)內(nèi)?！罄鋱霭l(fā)射電子槍冷場發(fā)射電子槍能夠產(chǎn)生高亮度、能量發(fā)散度小、相干性好的電子束
1）精煉的全新設計：在提高機械和電氣穩(wěn)定性的同時，憑借對透射電鏡的豐富經(jīng)驗，對電鏡整體進行了精煉全新設計，力求為用戶提供全新感受；
2) 四級聚光鏡設計：為了*大程度發(fā)揮出STEM功能，JEM-F200進行了全新概念的四級聚光鏡設計，亮度和匯聚角可以分別控制；
3）優(yōu)異掃描系統(tǒng)：在照明系統(tǒng)掃描功能之上又增加了成像系統(tǒng)的掃描功能（選購件）可以獲得大范圍的STEM-EELS；
4）皮米樣品臺控制：標配的壓電陶瓷控制樣品臺，可以在原子尺度上獲得精準的移動；
5）全自動裝樣測角臺（SPECPORTER）：樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動實現(xiàn)，彰顯其便利性及安全性；
6）成熟的冷場發(fā)射技術：將JEOL應用在球差校正技術上的優(yōu)異冷場發(fā)射技術移植到普通的場發(fā)射透射上，可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學結合狀態(tài)分析；
7）雙超級能譜設計：可安裝雙超級能譜，將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度；
8）節(jié)能減排：啟用省電模式耗電量降低80%。
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