RX-200 測(cè)量方法:紅外線反射吸收式 分光方式:旋轉(zhuǎn)過(guò)濾器方式(可以實(shí)際裝載6張) 測(cè)量距離:25mm(本體部下方面) 測(cè)量面積:5×8mm(橢圓) 尺寸?重量:230 (W)×134(D)×90(H),約4.5kg

產(chǎn)品介紹

正反射P偏光型標(biāo)準(zhǔn)在線膜厚計(jì)!消除了引起誤差的表面反射,可以正確進(jìn)行測(cè)量。

如果把紅外線照射到被測(cè)物上,就會(huì)發(fā)生與膜厚相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng)的紅外線吸收現(xiàn)象。從透過(guò)光或鏡面金屬板的正反射光來(lái)掌握吸收量,再按事先測(cè)得的吸光度與水分值的關(guān)系式,可以測(cè)量膜厚。

并且,采用本公司獨(dú)自的P偏光入射方式。消除因表面反射或內(nèi)部多重反射引起的誤差,提供紅外線測(cè)厚儀的硬件。

• 節(jié)省空間（在線）
  因?yàn)槭切⌒蛡鞲衅黝^，故不受放置空間約束。只需占用現(xiàn)有生產(chǎn)線上的狹小空間。
• 瞬間測(cè)量
  無(wú)需任何前處理。且可實(shí)現(xiàn)非破壞、非接觸的瞬間測(cè)量。
• 廣泛的適應(yīng)性
  通過(guò)由zui大6波長(zhǎng)組成的濾光器,可以測(cè)量各種材質(zhì)的膜厚及水分。
• 出眾的測(cè)量精度
  通過(guò)采用本公司獨(dú)自的P偏光方式,即使是幾μm以下的薄膜,也可得到穩(wěn)定的測(cè)量結(jié)果。
• 擁有值得信賴(lài)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性
  根據(jù)周?chē)h(huán)境和裝置的變動(dòng),采用3波長(zhǎng)測(cè)光方式確保長(zhǎng)期性的精度。

用途例

• LCD用光學(xué)薄膜測(cè)厚
• 聚合電池的隔離板測(cè)厚
• 彩色顯像管蔭罩的感光乳劑測(cè)厚
• 鋁箔上的乙烯涂層測(cè)厚
• 防霧加工薄膜的防霧劑涂層測(cè)厚
• 復(fù)合膜的粘合劑涂層測(cè)厚
• 收縮標(biāo)簽的脫膠檢查等
• 鋼板上的有機(jī)附著量測(cè)量

規(guī)格