1. 配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量

2. 使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)

3. 底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙

4.有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)

1. 鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）

2. 來(lái)料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控

3. 研究和開(kāi)發(fā)

4. 電子工業(yè)

5. 接插件和觸點(diǎn)

6. 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

7. 可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層

8. 痕量元素分析

9. 在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量

10. 硬質(zhì)鍍層分析