離子研磨儀IM4000Ⅱ是樣品用于掃描電鏡觀察（SEM）和表面分析（EDX，EBSD等）的前處理工具。他能無應(yīng)力的去除樣品表面層，加工出光滑的鏡面，且對于含有硬度不同的復(fù)雜材料同樣簡單。

特點：

1. 兼容平面和截面兩種加工方式；

2. 加工效率高，加工速率>500μm/h；

3. 可加工樣品尺寸大：平面加工Ф50mm×H25mm，截面加工20(W)×12(D)×7(H)mm；

4. 支持多種擴(kuò)展附件，例如真空轉(zhuǎn)移盒、冷凍樣品臺；

5. 操作便捷，采用觸摸屏控制，高精度光鏡頂位。