| 參考價 | 面議 |
在測量站使用MarSurfXCR20測量粗糙度和輪廓這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量
| 接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
|---|---|
| 測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
| 測量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
| 針尖半徑 | 25 |
| 掃描長度末尾（X 方向） | 200 mm |
| 分辨率 | Z 方向，相對探針針頭： Z 方向，相對測量系統(tǒng)： |
| 掃描長度開始（X 方向） | 0.2 mm |
| 取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差： 后緣高至 88°，前緣高至 77° |
| 定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
| 導(dǎo)塊偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
| 測量原則 | 探針法 |
| 輸入 | R 測頭，MFW 250 光學(xué)測頭 Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*僅結(jié)合 PGK 或 GD 120 CNC 驅(qū)動裝置） |
| 測量范圍 mm | (in Z) 50 mm MFW 250: ±25 µm，±250 µm，（ ±750 µm）；±1000 µin，±10,000 µin（ ±30,000 µm） |
| 掃描長度（文本） | 自動；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm， （.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸）， 測量至擋塊，可變 |
| 采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認：5） |
| 測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右 （可在 MarSurf XC 20 中設(shè)置） |
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