模塊化設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊；

測量適用性強(qiáng)，保證可以在各種工作與生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行檢測；

可測量反射率0.3%-99%的光學(xué)表面，覆蓋范圍廣；

數(shù)字化測量，避免人為損壞；

的結(jié)構(gòu)，全面的軟件，為生產(chǎn)及實(shí)驗(yàn)室提供支持；

無二的的產(chǎn)品特點(diǎn)：泰曼格林型/菲索型組合或用于校準(zhǔn)樣品的第二個相機(jī)，為μPhase®系列干涉儀的使用提供了便利。

適用于廠房、車間、實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)干涉儀檢測系統(tǒng)

立式檢測，結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小

標(biāo)配一個沿Z軸方向電動平移的平臺，可選配第二個平臺

傾斜及X/Y平移精調(diào)

可完成各種類型的反射與透射檢測

可采用透射法檢測雙膠合透鏡

凹面與凸面球面鏡的檢測范圍：標(biāo)準(zhǔn)曲率半徑范圍：1mm-225mm，

集成半徑測量單元

可選CGH，用于測量非球面、柱面、輪胎面等

Z軸方向設(shè)置導(dǎo)軌電機(jī)，電動升降

曲率半徑實(shí)現(xiàn)一鍵式自動測量

用于測量不同的平面和球面光學(xué)零件

操作直觀而簡單，適合非專業(yè)人士操作

測量范圍：

結(jié)構(gòu)緊湊，占用空間下，可靈活的與產(chǎn)線結(jié)合   

用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統(tǒng)

理想的大型平面的檢測系統(tǒng)，光學(xué)材料的均勻性檢測系統(tǒng)

球面測量范圍：凹面曲率半徑-3000mm（提供相應(yīng)導(dǎo)軌）

理想的成盤拋光分塊鏡面形檢測系統(tǒng)

平面測量范圍：98mm

測量范圍60-300mm

半徑測量系統(tǒng)集成導(dǎo)軌和光柵尺

立式檢測系統(tǒng)，其它檢測方式根據(jù)要求可訂制

適合長焦光學(xué)零件和系統(tǒng)的檢測

具有重型光學(xué)元件的支承、調(diào)整等操作功能。

與市場上通用的4英寸標(biāo)準(zhǔn)球面物鏡相兼容

可選旋轉(zhuǎn)對稱非球面的檢測配件，檢測范圍10mm-80mm，CGH檢測輪胎面、柱面等