• 產(chǎn)品介紹

VIT測(cè)試系統(tǒng)外形圖

VIT型VIS-SWIR成像探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)可擴(kuò)展的用于測(cè)試硅成像探測(cè)器、黑硅成像探測(cè)器以及InGaAs 成像探測(cè)器的測(cè)試系統(tǒng)，支持成像探測(cè)器所有重要參數(shù)的測(cè)試。

VIT測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)模塊化的測(cè)試系統(tǒng)，由以下五個(gè)部分組成：雙圖像投影通道，一組圖像采集卡，及，測(cè)試軟件和可選的測(cè)試原始芯片用的CON控制模塊。雙圖像投影通道是VIT測(cè)試系統(tǒng)的核心模塊，包括輻射通道和成像通道。

VIT測(cè)試系統(tǒng)提供了一組傳統(tǒng)參數(shù)的測(cè)量，這些參數(shù)通常用于表征紅外焦平面/熱成像核心的性能。另外也提供成像傳感器和相機(jī)的EMVA1288標(biāo)準(zhǔn)推薦的性能參數(shù)測(cè)試。

一般測(cè)試功能：

1. 輻射參數(shù)：相對(duì)光譜靈敏度、比探測(cè)率D*、量子效率QE、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、線性度、NEI、FPN固定圖形噪聲、非均勻性、信噪比、壞像素?cái)?shù)、3D噪聲。可以測(cè)量16個(gè)不同波長(zhǎng)下的情況。

2. 成像參數(shù)：調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、分辨率、最小可分辨對(duì)比度、串?dāng)_、高光溢出Blooming、視場(chǎng)。

EMVA1288測(cè)試功能：量子效率，增益，時(shí)間暗噪聲，DSNU1288，信噪比，PRNU1288，LE非線性，靈敏度閾值，飽和容量，動(dòng)態(tài)范圍，暗電流，相對(duì)光譜靈敏度。

• 產(chǎn)品參數(shù)

表1 用于定義VIT測(cè)試系統(tǒng)版本的兩位數(shù)編號(hào)

表2 產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)