大口徑光學(xué)元件散射缺陷檢測儀(Model LSDI-2000-LA)，適用于大口徑光學(xué)材料、半導(dǎo)體材料和金屬等材料拋光后的表面缺陷檢測和分析。本系統(tǒng)是一款非接觸式、全自動(dòng)的檢測儀器，能夠高速檢測待測表面的劃痕、麻點(diǎn)、臟污等特性。

1. 高速度

2. 高靈敏度

3. 高重復(fù)性

4. 全自動(dòng)操作

5. 可根據(jù)不同標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)判別

注：可以根據(jù)客戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測試的解決方案。