納米級紅外光譜:nanoIR 納米紅外光譜儀
從宏觀、亞微米到納米尺度的紅外光譜
nanoIR 納米紅外光譜儀：
布魯克公司是從宏觀、亞微米到納米尺度紅外光譜（nanoIR）領(lǐng)域的世界。在納米尺度下的物理和化學(xué)性質(zhì)等測量方面，我們致力于為聚合物、二維材料、材料科學(xué)、生命科學(xué)和微電子工業(yè)等多個領(lǐng)域提供創(chuàng)新的產(chǎn)品和解決方案。
Anasys 納米紅外光譜儀（nanoIR) 已被多所大學(xué)、國家實(shí)驗(yàn)室和的化學(xué)/材料公司所采用。憑借高影響力和不斷增長的研究成果，通過廣大客戶的實(shí)際應(yīng)用，納米紅外光譜儀表現(xiàn)出了良好的易用性和高效性。
布魯克納米紅外光譜儀Anasys nanoIR3-專業(yè)級
產(chǎn)品介紹
10nm 空間分辨率化學(xué)成像和光譜
高性能納米級 FTIR 光譜
只有 nanoIR3-s 能夠提供：
高性能納米級 FTIR 光譜
高性能紅外近場光譜，采用目前的納米紅外激光源
納米級 FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成
適用于光譜和化學(xué)成像的多芯片 QCL 激光源
點(diǎn)光譜技術(shù)
POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個波長的光譜分析和高分辨光學(xué)成像。nanoIR3-s讓測試更加簡單：
·在 AFM 圖像中選擇要測量的特征
·測量樣品的波譜，選擇感興趣的波長
·采集高分辨光學(xué)屬性圖
根據(jù)對多個波長的干涉圖的快速測量，獲得空間分辨率達(dá)到 10nm 的振幅和相位圖像實(shí)現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于的互補(bǔ)性紅外光譜分析。
支持全系列掃描探針顯微鏡模式
Contact Mode（接觸模式）
Tapping Mode（輕敲模式）
Lateral Force Microscope（橫向力/摩擦力顯微鏡）
Phase Imaging（相位成像）
Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)
Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)
Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)
Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)
Force Curve Spectroscopy（力曲線）
Liquid Imaging（液態(tài)環(huán)境掃描）
Heater-Cooler Imaging（高低溫環(huán)境掃描）
SThM（掃描熱顯微鏡）
Nano-TA（納米熱分析）
LCR（洛倫茲納米力學(xué)分析）
