DM4P, DM2700P, DM750P 正置偏光顯微鏡
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- 公司名稱 上海拓普思科技有限公司
- 品牌
- 型號 DM4P,DM2700P,DM750P
- 所在地 上海市
- 廠商性質 其他
- 更新時間 2024/6/17 14:44:19
- 訪問次數 84
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如果您想要研究晶體結構,偏光顯微鏡檢測測將是您的不錯的選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑,徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容,完成您的研究或質量控制任務。
根據不同的應用,您可以從三種不同的偏光顯微鏡系統(tǒng)中進行選擇:
您需要一些組件來實現(xiàn)偏光研究目標。以下都是重要的組件:
徠卡正置偏光顯微鏡采用無應力光學部件
徠卡正置偏光顯微鏡采用LED 照明,較鹵素照明優(yōu)勢更加明顯:
徠卡正置偏光顯微鏡采用LED照明
通過編碼組件存儲和調用信息
辨識感興趣的結構
借助編碼的功能性,可靈活適應各種任務,操作簡單,適用于學術研究、操作新手或多用戶環(huán)境
Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡
物鏡轉盤配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率,獲取豐富的樣品信息。
而且物鏡轉盤也是編碼的,可為您提供智能支持。
徠卡偏光顯微鏡配備 6 物鏡轉盤
您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光,也可以一次性配置為使用兩種光源。
當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時,相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。
Leica DM4 P 偏光顯微鏡的 LED 照明可選擇使用透射光或入射光
錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關研究材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數量、光軸角度和光學特性。
Leica DM4 P 非常適用于錐光法:
強散色 Brookit (TiO2) 錐光圖
方解石厚片的單軸干涉圖,垂直于光軸
黑云母晶體薄片圓偏光雙軸干涉圖,對角位置,光軸位置清晰可辨
如果您不需要全自動化和可再現(xiàn)性,Leica DM2700 P 就是您的選擇。除自動化以外,它還能提供毫不遜色于 Leica DM4 P 的靈活性。
堅固的支架和直觀的功能是成功完成日常普通和任務的關鍵。
Leica DM2700 P 正置偏光顯微鏡
在教學中,您需要一種可供學生們日常使用的耐用工具。使用簡單,即插即用。
Leica DM750 P 正置顯微鏡
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