HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：

    HAST/HALT試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

◆內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計,可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。

◆采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到純凈飽和蒸汽狀態(tài)。

◆采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。

◆汽車級硅膠整體密封條，氣密性好，耐用。

◆全自動補(bǔ)水功能,前置式水位確認(rèn)。

◆采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱簡介：

HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn)等行業(yè)。

威邦高壓加速老化試驗(yàn)箱采用優(yōu)化設(shè)計，美觀大方、做工精細(xì)，對應(yīng) IEC60068-2-66 條件，具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗(yàn)結(jié)束后壓力溫

度的急變，保證試驗(yàn)結(jié)果的正確。