HAPS探針臺產(chǎn)品特點(diǎn)介紹

應(yīng)用導(dǎo)向 - 豐富的KitStart測試組件適用于多種的測試要求。

超高精度和穩(wěn)定性 - 花崗巖探針臺底座，滿足亞微級測試要求。

SlimScope和Superscope - SlimScope用于高精度RF/mmW／load pull測試，Superscope用于亞微米級測試。

高性價比 - 用戶可根據(jù)需求配置的高性價比探針臺系統(tǒng)。

HAPS探針臺 - Superscope金相顯微鏡配置

Superscope為擁有4個轉(zhuǎn)塔的金相顯微鏡，可安裝4個M Plan APO 95mm金相物鏡。其放大倍數(shù)，根據(jù)所選物鏡的倍數(shù)，通常由20～2000X不等。該系統(tǒng)常用于極小微尺寸的待測點(diǎn)的測試或激光應(yīng)用中。

HAPS探針臺為Superscope配置了兼顧剛性和精度的基座，可進(jìn)行X-Y-Z三方向的精密定位。簡單直接的操作方法，可讓用戶列加專注于測試測量應(yīng)用于中去，而不是探針臺的操作。

HAPS探針臺 - SlimScope配置

SlimScope擁有12X的超大變倍比Zoom lens，可根據(jù)客戶對放大倍數(shù)的需求配置1X或更大倍數(shù)的M Plan APO物鏡。專用的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可讓用戶輕松的切換M Plan APO物鏡，地減少更換物鏡的麻煩并提升安全性。

SlimScope常用于對精度要求更高的RF／mmW測試，負(fù)載牽引測試等。