高性能X射線熒光分析儀

產(chǎn)品描述：

美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界的多孔毛細管光學(xué)聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應(yīng)的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

•      微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點

•       射線出射點預(yù)置于射線管Be窗正

•       長壽命的射線管燈絲

•       的預(yù)熱和ISO溫度適應(yīng)程序

多毛細管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)

•     顯著提高X射線信號強度

•       獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度

•       小于100um直徑的測量斑點

•       經(jīng)過驗證，接近的測量精度

應(yīng)用領(lǐng)域：

• 常見的鍍層應(yīng)用

        PCB行業(yè)

        Au/Pd/Ni/Cu/PCB

• 引線框架

        Ag/Cu

        Au/Pd/Ni/CuFe

• 半導(dǎo)體行業(yè)

        Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

        Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

• 線材

        Sn/Cu

• 珠寶、貴金屬

        10,14,18Kt

• 元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等