美國SOC公司ET100發(fā)射率測量儀采用積分球反射方法設計，內(nèi)置積分球、紅外光源、微型控制處理器等，采用電池供電、觸摸屏顯示，具有使用方便、準確性高等優(yōu)點。進行測量時，只需將儀器對準物體表面，扣動扳機后，自動進行反射率測量，測量完成后，會在顯示屏上顯示測量結果，同時將測量的反射率數(shù)據(jù)自動存儲在SD卡內(nèi)，可供用戶后續(xù)處理和分析數(shù)據(jù)，測量一次的時間只需要7秒鐘。隨機配備鏡面金質(zhì)標樣，并可提供NIST可溯源標定。

美國SOC公司ET100發(fā)射率測量儀采用積分球反射方法設計，內(nèi)置積分球、紅外光源、微型控制處理器等，采用電池供電、觸摸屏顯示，具有使用方便、準確性高等優(yōu)點。進行測量時，只需將儀器對準物體表面，扣動扳機后，自動進行反射率測量，測量完成后，會在顯示屏上顯示測量結果，同時將測量的反射率數(shù)據(jù)自動存儲在SD卡內(nèi)，可供用戶后續(xù)處理和分析數(shù)據(jù)，測量一次的時間只需要7秒鐘。隨機配備鏡面金質(zhì)標樣，并可提供NIST可溯源標定。
ET100發(fā)射率測量儀可以測量20度和60度2個入射角，6個光譜波段的反射率和波段總發(fā)射率。

ET100發(fā)射率測量儀可以實現(xiàn)在實驗室以及野外現(xiàn)場精確地測量和研究材料表面的光學特征——反射率、發(fā)射率等參數(shù)。

應用領域

航空工業(yè)
涂層領域
太陽能領域優(yōu)化太陽能利用性能
節(jié)能建筑
光學材料質(zhì)量控制

產(chǎn)品特點
測量2個入射角、1.5~21μm之間6個非連續(xù)波段的反射系數(shù)
NIST標準
快速、便攜
電池操作非常方便
測量標準和60°入射角的定向熱發(fā)射比
計算半球熱發(fā)射比

技術參數(shù)
符合標準 ASTM E408
測量參數(shù) 定向半球反射比(DHR)
測量方法 波段范圍內(nèi)積分總反射比
輸出參數(shù) 總發(fā)射比
波段 6個波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm
入射角 20°&60°法線入射
樣品表面 任何表面，6”半徑凸面，12”半徑凹面
測量時間 10秒/次；90秒預熱
IR源 鉻鋁鈷合金
測量探頭 模塊化設計，測量頭可更換
操作界面 觸摸式液晶屏軟件界面
工作環(huán)境 儲存環(huán)境：-25~70℃；操作環(huán)境：0~40℃，非冷凝
供電 兩塊可充電鎳氫電池
重量 2.1Kg，含電池