性能高級、操作簡便、堅固耐用、結(jié)果可靠

38DL PLUS測厚儀是一款創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。

38DL PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些專用于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區(qū)既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。

主要特性
• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
• 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
• 設計符合EN15317標準。