產(chǎn)品名稱：

蘇州晶格方塊電阻測(cè)試儀廠家免費(fèi)提供導(dǎo)電材料測(cè)試解決方案

簡介：

蘇州晶格方塊電阻測(cè)試儀按測(cè)試材料性質(zhì)可分為：薄膜方塊電阻測(cè)試儀，塊狀固體方塊電阻測(cè)試儀等，根據(jù)您的使用場(chǎng)景免費(fèi)提供材料導(dǎo)電性能的測(cè)試解決方案。產(chǎn)品質(zhì)量可靠，售后三包有保證。

詳情：

蘇州晶格方塊電阻測(cè)試儀廠家，免費(fèi)提供方塊電阻測(cè)試材料解決方案。產(chǎn)品質(zhì)量可靠，售后三包有保證。

1、薄膜方塊電阻測(cè)試儀

包括：M-3型手持式方塊電阻測(cè)試儀，ST2258C型標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)式方塊電阻測(cè)試儀，ST2253型帶電腦軟件單電測(cè)方塊電阻測(cè)試儀，ST2263雙電測(cè)方塊電阻測(cè)試儀。搭配薄膜專用探頭ST2558B-F01可測(cè)ITO膜、金屬箔、石墨烯薄膜、碳紙，PE膜等材料的方塊電阻。

M-3型手持式方塊電阻測(cè)試儀

ST2258C型方塊電阻測(cè)試儀

2、塊狀固體方塊電阻測(cè)試儀

塊狀固體方塊電阻測(cè)試儀和薄膜方塊電阻測(cè)試儀使用的主機(jī)相同。只需搭配塊狀固體專用探頭ST2253-F01可測(cè)太陽能電池片、硅片、導(dǎo)電塑料，硅塊等材料的方塊電阻。適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針法對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。

ST2253型單電測(cè)方塊電阻測(cè)試儀

ST2263雙電測(cè)方塊電阻測(cè)試儀