W5型全譜直讀光譜儀可快速的對金屬材料樣品進(jìn)行元素測定。光學(xué)系統(tǒng)采用CMOS檢測器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素，它都能準(zhǔn)確、可靠的分析。公司在行業(yè)內(nèi)擁有光譜多年的生產(chǎn)經(jīng)驗積累，針對不同材料、不同要求，設(shè)計了這款全新的、更具性價比的全譜直讀光譜儀，可滿足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號識別、材料研究和開發(fā)的應(yīng)用。
科技及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的體現(xiàn)
黑科技一：性能的光學(xué)系統(tǒng)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)凹面光柵，全譜覆蓋，滿足客戶對全元素檢測的需求。
直射式光學(xué)技術(shù)及采用MgF材料制作的光學(xué)器件，保證紫外區(qū)域的性能。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)，低的暗電流，好的檢出限，高的穩(wěn)定性，強(qiáng)的靈敏度，滿足N的分析要求
黑科技二：智能數(shù)字激發(fā)光源
全數(shù)字化智能復(fù)合光源DDD技術(shù)，帶來分析性能。
緊湊的設(shè)計及半導(dǎo)體控制技術(shù)，使得光源有更好的穩(wěn)定性、強(qiáng)的可靠性。
高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS),激發(fā)參數(shù)調(diào)整，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同分析元素的激發(fā)要求。
黑科技三：智能樣品激發(fā)臺設(shè)計
激發(fā)臺直接將激發(fā)光導(dǎo)入光學(xué)系統(tǒng)
開放式樣品臺，滿足大樣品測試要求。
變換電極可對小樣品及復(fù)雜幾何形狀樣品分析有更好的性能
視頻識別技術(shù)，確保樣品臺激發(fā)安全，可監(jiān)測樣品臺的全景。
黑科技四：智能集成氣路模塊
智能氬氣流設(shè)計及粉塵收集清理裝置
的氬氣噴射技術(shù)，有效消除激發(fā)過程中等離子體的飄移，確保CCD檢測器能夠觀測高溫區(qū)域光信號，提高精度和穩(wěn)定性。
激發(fā)后，脈沖式氬氣吹掃，提高粉塵去除效果，提升儀器的短期和長期穩(wěn)定性。
黑科技五：智能真空測量和控制
真空系統(tǒng)程控，在保證真空度的同時減少真空泵的運(yùn)行時間，
雙級設(shè)置，在儀器不運(yùn)行的情況下，開啟待機(jī)真空運(yùn)行狀態(tài)。
多級真空隔離措施及增加濾油裝置，保障光學(xué)元器件在可靠的環(huán)境中工作。
黑科技六：透鏡清理裝置
不銹鋼真空球閥，在清理透鏡時有良好的隔離效果。
單板式透鏡設(shè)計，拆裝方便。
交叉機(jī)械裝置，在未解除隔離的情況有效保護(hù)光學(xué)系統(tǒng)。
黑科技七：計算機(jī)及讀出系統(tǒng)
計算機(jī)與手機(jī)（或PAD)可同步顯示，方便面板操作。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)及FPGA、DSP和ARM技術(shù)，進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。
以太網(wǎng)和TCP/IP協(xié)議，數(shù)據(jù)傳輸高速、可靠。
數(shù)據(jù)可遠(yuǎn)程傳輸，全面實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化。實時方便對儀器運(yùn)行狀態(tài)的監(jiān)測和控制。
數(shù)據(jù)可進(jìn)行云打印。
黑科技八：專用的光譜分析軟件
光譜儀制作標(biāo)準(zhǔn)的專用光譜儀軟件，操作界面人性化，功能標(biāo)準(zhǔn)化。
儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析方法和的解決方案。
可根據(jù)用戶的材料要求，可現(xiàn)場延長標(biāo)準(zhǔn)曲線的測量上、下限。
其它黑科技：
自動光路校準(zhǔn)
低氬氣消耗
通用可調(diào)樣品適配器
基體擴(kuò)展功能
標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)修改
控樣修正功能
更安全、更開放的便捷設(shè)計
結(jié)果實時顯示，可為用戶定制打印報告功能
軟件快速診斷
界面操作簡單
可靠的工廠校準(zhǔn)功能
