X射線熒光光譜儀檢測(cè)首飾有害元素儀器
X射線熒光光譜儀測(cè)試首飾鉛含量機(jī)器設(shè)備 分析含量一般為：1ppm到99.9%
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1%
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1%
首飾有害金屬元素化驗(yàn)儀器設(shè)備相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序

X射線熒光光譜儀檢測(cè)首飾有害元素儀器

手持式儀器資料：

美國Innov-X便攜式RoHS有害元素檢測(cè)儀Delta經(jīng)典型DCC-6500 的技術(shù)指標(biāo)和性能參數(shù)外形尺寸：245x250x88mm。重量：<1.5Kg。色彩：青灰色、黑色、銀白色相間。環(huán)境工作溫度：-20℃ ~50℃。環(huán)境濕度：0~95%。激發(fā)源：大功率微型直板電子X射線管，內(nèi)置15kV~40kV多段可選擇的電壓。靶材：Au靶。探測(cè)器：性能Si-Pin探測(cè)器。X射線熒光光譜儀檢測(cè)首飾有害元素儀器 冷卻系統(tǒng)：采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)，控測(cè)器在-35℃下工作，保證儀器的檢測(cè)精度，和不受外界溫度的影響。濾波器：濾波器8個(gè),可根據(jù)不同的電壓自動(dòng)切換。元素分析范圍：鈦（）到鈾（U）之間的所有元素。RoHS/WEEE模式:Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個(gè)元素。Halogen Free模式：Br、P、S、Cl、K、Ca、、、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb等28個(gè)元素。

臺(tái)式儀器資料：

儀器概述

電鍍器件作為電子電器產(chǎn)品的重要組成部分必須符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)。該儀器應(yīng)用新一代的壓電源和X光管，提產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提儀器的測(cè)試效率。

性能優(yōu)勢(shì)

專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)

智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回收程序

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）

測(cè)量對(duì)象：固體、液體、粉末

分析檢出限可達(dá)：1ppm

分析含量一般為：1ppm到99.9%

多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1%

長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1%

標(biāo)準(zhǔn)配置

單樣品腔。

正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器

信號(hào)檢測(cè)電子電路

低壓電源

X光管