納米壓痕儀
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- 公司名稱 鉑瑞達(北京)科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2020/11/9 13:40:59
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納米壓痕儀 2018/06/07 基礎(chǔ)參數(shù)類型/使用:在真空(SEM,部分真空,惰性氣體)中,在空氣中主要縮進模式:真正的位移測試協(xié)議的適應(yīng)性:可定制軟件升級選項/擴展功能:高溫和超高應(yīng)變率模塊縮進縮進提示:Berkovich,Cube Corner,F(xiàn)lattop,Wedge,Spherical 等縮進范圍:40μm位移噪底:1nm負載范圍:500mN 標準/可選 1.5N加載本底噪聲:4μN/12μN RMS 噪聲竇狀模式:200Hz 的位移模式壓痕簡介:操作員可以自由定義任何輪廓(位移或載荷)樣品頂端對齊壓頭尖遠程方法:22mm 范圍,1nm 分辨率(閉環(huán))自動接近模式:超過幾毫米采樣位置范圍:26x26mm,1nm 分辨率(閉環(huán))壓痕面積(*) 10x10mm室溫下的漂移:5nm/min(在真空中)超高應(yīng)變率模塊應(yīng)變率:達 3000s -1竇狀模式:開環(huán) 10kHz啟動范圍:1μm測量范圍:1N加載本底噪聲:30μN RMS 噪聲高溫模塊高溫度范圍:標準 600℃/可選 800......
基礎(chǔ)參數(shù)
類型/使用:在真空(SEM,部分真空,惰性氣體)中,在空氣中
主要縮進模式:真正的位移
測試協(xié)議的適應(yīng)性:可定制軟件
升級選項/擴展功能:高溫和超高應(yīng)變率模塊
縮進
縮進提示:Berkovich,Cube Corner,F(xiàn)lattop,Wedge,Spherical 等
縮進范圍:40μm
位移噪底:<1nm
負載范圍:500mN 標準/可選 1.5N
加載本底噪聲:4μN/12μN RMS 噪聲
竇狀模式:200Hz 的位移模式
壓痕簡介:操作員可以自由定義任何輪廓(位移或載荷)
樣品頂端對齊
壓頭尖遠程方法:22mm 范圍,1nm 分辨率(閉環(huán))
自動接近模式:超過幾毫米
采樣位置范圍:26x26mm,1nm 分辨率(閉環(huán))
壓痕面積(*) 10x10mm
室溫下的漂移:5nm/min(在真空中)
超高應(yīng)變率模塊
應(yīng)變率:達 3000s -1
竇狀模式:開環(huán) 10kHz
啟動范圍:1μm
測量范圍:1N
加載本底噪聲:30μN RMS 噪聲
高溫模塊
高溫度范圍:標準 600℃/可選 800℃
在 600℃時的漂移:10nm/min
在 600℃時的穩(wěn)定時間:<3 小時
壓頭尖材料:金剛石,立方氮化硼,藍寶石,碳化鎢等
溫度穩(wěn)定性:10mK 分辨率
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